• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Смирнов, Серафим Всеволодович. Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и структур : лабораторный практикум / С. В. Смирнов, И. А. Чистоедова ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. - Томск : Изд-во ТУСУРа, 2024. - 61 с. : ил., граф., табл. - Библиогр.: с. 61 (7 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-6050216-3-6. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    81.09.30620.22-022.532:620.1(076.5)
    29.19.22538.91-022.532:620.1(076.5)

    Рубрики:
    Наноструктурные материалы -- Методы исследования -- Учебники и пособия
    Наноструктуры -- Методы исследования -- Учебники и пособия

    Кл.слова (ненормированные): ИНФРАКРАСНАЯ ФУРЬЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ -- КРЕМНИЕВЫЕ НАНОСТРУКТУРЫ -- МЕТОД ВОЛЬТ-ФАРАДНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК -- ПОГЛОЩЕНИЕ СВЕТА РАСТВОРАМИ -- РЕНГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ
    Аннотация: Приведены пять лабораторных работ, в основу которых положены четыре наиболее распространенных и перспективных физических метода контроля параметров наноструктурированных материалов и структур - спектрометрическое оценивание толщины тонких пленок, рамановская и инфракрасная Фурье-спектроскопия, растровая электронная микроскопия. Предназначено для студентов технических вузов.
    Доп. точки доступа:
    Чистоедова, Инна Анатольевна
    Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-24/25318)

    Шифр в сводном ЭК: 5df81e69d9148d5d9dbf437bab95f751



    Заказ фрагмента документа ₽