Полное описание
Electron microscopy XIV : proc. of the 14th intern. conf. on electron microscopy (EM2011), held in Wisla, Poland, from 26 to 30 Jun. 2011 / International conference on electron microscopy (14; 2011; Wisla) ; ed.: D. Stroz, K. Prusik. - Durnten-Zurich : Trans tech publ., 2012. - on-line. - (Solid state phenomena, ISSN 1662-9779 ; vol. 186). - URL: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.186 . - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-03813-699-6. - Текст : электронный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35(063)
Кл.слова (ненормированные): КОНФЕРЕНЦИИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа: Stroz, D.\ed.\
International conference on electron microscopy (14 ; 2011 ; Wisla)
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.186
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ?-672575373)
Шифр в сводном ЭК: 66151491820ccd5205b2010c7e8cece6
Light metals and their alloys II : vol. 2 / ed.; A. J. Dolata, M. Dyzia, 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Ferroics and multiferroics / ed.: H. Singh, W. Kleemann, 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Internal friction and mechanical spectroscopy : the 16th intern. conf. on internal friction and mechanical spectroscopy, ICIFMC-16, held on Jul. 3-8, 2011, in Lausanne, Switzerland / International conference on internal friction and mechanical spectroscopy (16; 2011; Lausanne), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Magnetism and magnetic materials V : the 5th intern. symp. on magnetism (MISM2011), held in Moscow, Aug. 21-25, 2011 / International symposium on magnetism (5; Moscow), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Advanced structural and functional materials for protection, ICMAT 2011 : symp. on advanced structural and functional materials for protection, ICMAT 2011, held on 26 Jun.-1 Jul. 2011 in Singapore / Symposium on advanced structural and functional materials for protection (2011; Singapore), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Electron microscopy XIV : proc. of the 14th intern. conf. on electron microscopy (EM2011), held in Wisla, Poland, from 26 to 30 Jun. 2011 / International conference on electron microscopy (14; 2011; Wisla), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Ultra clean processing of semiconductor surfaces X : the 10th intern. symp. on ultra clean processing of semiconductor surfaces (UCPSS 2010), was held in Oostende, Belgium, on Sept. 20-22, 2010 / International symposium on ultra clean processing of semiconductor surfaces (10; 2010; Oostende), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Advanced materials and structures IV : the 4th intern. conf. on advanced materials and structures (AMS 2011), Timisoara, 2011 / International conference on advanced materials and structures (4; 2011; Timisoara), 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г.: тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) , 2011. - 279 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российская конференция по электронной микроскопии : ЭМ'98, 15-18 июня 1998 г.Тез.докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (17 ; 1998 ; Черноголовка) , 1998. - 325 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания
Приложение
для Android
