ГПНТБ России - Полное описание

Полное описание

Кофанов, Юрий Николаевич. Моделирование в электронной инженерии : обеспечение высокой надежности электронных средств: монография / Ю. Н. Кофанов ; Правительство Российской Федерации, Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики", Московский институт электроники и математики имени А.Н. Тихонова. - Москва : ИНФРА-М, 2022. - 258 с. : ил. - (Научная мысль. Электроника). - Библиогр.: с. 255-258 (36 назв.). - 500 экз. - ISBN 978-5-16-018368-8. - Текст (визуальный) : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.14.17	621.396.6-047.58

Рубрики:
Радиоэлектронная аппаратура -- Моделирование

Кл.слова (ненормированные): РАДИОТЕХНИКА -- РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ -- РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПЛЕКСЫ -- РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ СРЕДСТВА -- ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ УЗЛЫ -- ЭЛЕКТРОРАДИОЭЛЕМЕНТЫ
Аннотация: В данной монографии изложены основы применения проектного цифрового моделирования физических процессов, протекающих в электронных средствах (ЭС) в процессе их эксплуатации. Предлагаемые модели описаны таким образом, который позволяет их применить в электронной инженерии при разработке ЭС, к которым предъявляются повышенные требования по надежности. При этом рассмотрены также основы теории надежности, которые приведены к таким формам, которые позволяют эффективными методами добиться выполнения высоких практических требований к показателям надежности ЭС. Описанные методы унифицированы благодаря, прежде всего, существующим аналогиям между математическими описаниями разнородных физических процессов: электрических, тепловых, механических. В монографии большое внимание уделено различным видам и формам моделирования на ЭВМ, что позволяет выполнить проекты ЭС с доказанными высокими значениями показателей надежности до проведения крайне затратных натурных испытаний.
Доп. точки доступа:
"Высшая школа экономики", национальный исследовательский университет (Москва)
Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-22/11179)

Шифр в сводном ЭК: 6adeb64e5f5c6d791ea78d0f4fd36673

Кофанов, Юрий Николаевич. Моделирование в электронной инженерии: обеспечение высокой надёжности электронных средств : Монография / Ю. Н. Кофанов, 2022. - 259 с. - Текст : электронный.Кофанов, Юрий Николаевич. Моделирование в электронной инженерии : обеспечение высокой надежности электронных средств: монография / Ю. Н. Кофанов, 2022. - 258 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Кофанов, Юрий Николаевич. Электронная инженерия: теория параметрической чувствительности систем : Монография / Ю. Н. Кофанов, 2024. - 152 с. - Текст : электронный.Кофанов, Юрий Николаевич. Электронная инженерия : теория параметрической чувствительности систем: монография / Ю. Н. Кофанов, 2024. - 151 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Кофанов, Юрий Николаевич. Комплексное моделирование физических процессов бортовых инфокоммуникационных устройств : монография / Ю. Н. Кофанов, С. Ю. Сотникова, 2025. - 115 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.

Капустин, Владимир Иванович. Точечные дефекты в оксидах и эмиссионные свойства : монография / В. И. Капустин, А. С. Сигов, И. П. Ли, В. А. Мельников, 2022. - 247 с. - Текст : непосредственный.Кофанов, Юрий Николаевич. Моделирование в электронной инженерии : обеспечение высокой надежности электронных средств: монография / Ю. Н. Кофанов, 2022. - 258 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Кофанов, Юрий Николаевич. Электронная инженерия : теория параметрической чувствительности систем: монография / Ю. Н. Кофанов, 2024. - 151 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.