• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Данилов, Игорь Александрович. Критические элементы сбоеустойчивых цифровых комплементарных металл-оксид-полупроводниковых интегральных схем с проектными нормами уровня 65 нм : 05.13.05 - "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления": автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Данилов Игорь Александрович ; Федеральный научный центр Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук (ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН). - Москва, 2022. - 25 с. : ил. - Библиогр.: с. 23-25. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14:539.16(043)

    Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- КМОП-ТЕХНОЛОГИИ -- СБОЕУСТОЙЧИВОСТЬ -- СВЕРХБОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ТЯЖЕЛЫЕ ЗАРЯЖЕННЫЕ ЧАСТИЦЫ
    Доп. точки доступа:
    Научно-исследовательский институт системных исследований (Москва)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар22-5635)

    Шифр в сводном ЭК: a719e70484d1dfff3d914d91f309d0e3



    Заказ фрагмента документа ₽