• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Моделирование и аппаратное тестирование процессов обработки сигналов в комбинированном мемристорно-диодном кроссбаре, являющемся основой биоморфного нейропроцессора / А. Д. Писарев, А. Н. Бусыгин, А. Н. Бобылев [и др.]. - DOI 10.22184/1993-8578.2020.13.5s.724.732. - Текст : непосредственный // Наноиндустрия = Nanoindustry : научно-технический журнал. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2020. - Т. 13 (102), спецвып. 5s (2020), Ч. 3. - С. 724-732. - Библиогр. в конце ст.

    ГРНТИ УДК
    50.33.43004.383.8.032.26
    28.23.37004.032.26

    Рубрики:
    Нейрокомпьютеры
    Нейронные сети

    Кл.слова (ненормированные): численное spice-моделирование -- аппаратное тестирование -- обработка сигналов -- комбинированный мемристорно-диодный кроссбар -- биоморфные нейропроцессоры -- запоминающая и логическая матрицы -- магнетронное распыление
    Аннотация: Изготовлен комбинированный мемристорно-диодный кроссбар, являющийся основой биоморфного нейропроцессора. Проведены моделирование и аппаратное тестирование процессов обработки сигналов, происходящих в запоминающей и логической матрицах. Экспериментально подтверждена работоспособность основных узлов нейропроцессора.
    Доп. точки доступа:
    Писарев, Александр Дмитриевич
    Бусыгин, Александр Николаевич
    Бобылев, Андрей Николаевич
    Губин, А.А.
    Удовиченко, Сергей Юрьевич

    Экз-ры полностью 73997ed3795c71b8b597c6b49fdf6980
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -254425-597847)

    Шифр в сводном ЭК: e6c515c1bb4b6653f1f25a9dfcf572de




    Заказ фрагмента документа ₽