• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Ваграмян, Тигран Ашотович. Спектральные методы исследования материалов : учебное пособие / Т. А. Ваграмян, О. А. Василенко ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский химико-технологический университет им. Д. И. Менделеева. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Российский хим.-технологический ун-т им. Д. И. Менделеева, 2022. - 223 с. : ил. - Библиогр.: с. 222-223 (21 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-7237-1950-7. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    81.09.03543.42
    620.22

    Рубрики:
    Спектральный анализ
    Материалы -- Методы исследования

    Кл.слова (ненормированные): АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- БЛИЖНЕПОЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНФОКАЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МАГНИТНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОСИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ
    Аннотация: В работе рассмотрены теоретические основы спектральных методов анализа материалов и в частности поверхности: сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ), электросиловой микроскопии (ЭСМ), магнитно-силовой микроскопии (МСМ), ближнепольной оптической микроскопии (БОМ), конфокальной микроскопии, эллипсометрии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), рентгенофлюоресцентной спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии, Ик-спектроскопии. Предназначено для студентов магистратуры направления подготовки Материаловедение и технология материалов.
    Доп. точки доступа:
    Василенко, Оксана Анатольевна
    Российский химико-технологический университет им. Д. И. Менделеева (Москва)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-22/1369)

    Шифр в сводном ЭК: 52634ad69b209a79948928e45cdbc0eb



    Заказ фрагмента документа ₽