• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Бжихатлов, Кантемир Чамалович. Диагностика материалов и компонентов электроники и наноэлектроники методами фотоэлектронной микроскопии (РФЭС, УФЭС) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов : учебное пособие / К. Ч. Бжихатлов, В. К. Люев, А. А. Канаметов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова. - Нальчик : КБГУ, 2021. - 47 с. : ил. - Библиогр.: с. 47. - 50 экз. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.3.049.76:658.562(076.5)
    621.384-022.532:658.562(076.5)

    Рубрики:
    Микроэлектронные приборы -- Технический контроль -- Учебники и пособия
    Наноэлектронные устройства -- Технический контроль -- Учебники и пособия

    Кл.слова (ненормированные): НЕРАЗРУШАЮЩИЕ МЕТОДЫ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- СОСТАВ СПЛАВОВ -- УЛЬТРАФИОЛЕТОВАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ -- ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ -- ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
    Аннотация: В учебном пособии изложены основные методы анализа экспериментальных данных о составе и свойствах твердых тел, полученных методами фотоэлектронной микроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Электроника и наноэлектроника".
    Доп. точки доступа:
    Люев, Валерий Кашифович
    Канаметов, Анзор Азреталиевич
    Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова (Нальчик)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-21/89403)

    Шифр в сводном ЭК: 565328ef759c3d862e62f77f80ab2dbc



    Заказ фрагмента документа ₽