Приложение
для AndroidПолное описание
Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. : ил. - англ. - Пер. материала фирмы: MUX. Liquid crystal tesyer model 1202 / RPG Electronics Inc.(США). - S.l., S.a. - P.1-17. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ 47.09.45 + 47.13.81 + 47.33.35
Рубрики:
Тестеры
Дисплеи на жидких кристаллах
Кл.слова (ненормированные): ВОЗБУЖДЕНИЕ -- ДИСПЛЕЙ -- КОНТРОЛЬ -- НАПРЯЖЕНИЕ -- ОБЪЕДИНИТЕЛЬНАЯ ПЛАТА -- СИГМЕНТ -- ТЕСТИРОВАНИЕ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 06927004487)
Шифр в сводном ЭК: 8eace4137644ceb68e2c0ac52398b14d
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыBayer T. Entwicklung von Ta2O5-MIM-Elementen fur aktiv adressierte verdrillt nematische Flussigkristallbildschirme / T. Bayer, 1999. - X,135 S. S. - Текст : непосредственный.Инструкция по техническому обслуживанию. - 209 c. - Текст : непосредственный.Аверьянов Е.М. Spectral peculiarities of luminescent impurity inn nematic matrix / Е. М. Аверьянов, В. А. Гуняков, 1991. - 16 p. - Текст : непосредственный.Машина для переноса покрытия из полиимида, модель N CTM-0082. - 42 c. - Текст : непосредственный.Вистинь Л.К. Жидкие кристаллы в устройствах информатики : Учеб. пособие для физ.-мат. фак. пед. ун-тов и вузов / Л.К.Вистинь,А.С.Лагунов,В.Ф.Ламекин;Под ред. В.Ф.Ламекина, 1995. - 208 c. - Текст : непосредственный.Cristaldi D.J. Liquid crystal display drivers : techniques and circuits / D. J. Cristaldi, F. Pulvirenti, S. Pennisi, 2009 r=on-lineMinarsch J. Untersuchung und Herstellung ferroelektrischer Flussigkristall-Bildschirme : Diss. / J.Minarsch, 1996. - 145 S. - Текст : непосредственный.Контроль: система демонстрации изображения "ДЕЙТ-ДИСПЛЕЙ 400" / Фирма "Хмельницквнешсервис" при ТПП УССР. - 4 c. - Текст : непосредственный.Система "Кодак-дейтшоу" / Фирма "Хмельницквнешсервис" при ТПП УССР. - 4 c. - Текст : непосредственный.Король А.А. Кабельный тестер КТ96 / А. А. Король, Э. Л. Неханевич, В. М. Попов, 2003. - 11 с. - Текст : непосредственный.Черно-белые и цветные жидкокристаллические видеодисплеи 14.7/11:А.М. на основе полисиликоновых тонкопленочных транзисторов / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Тестовые кристаллы / ВЦП. - 15 c. - Текст : непосредственный.Bunz R. Bistabile cholesterische Flussigkristalldisplays mit Glas- und Kunststoffsubstraten : Diss. / R.Bunz, 1999. - VIII,132 S. S. - Текст : непосредственный.Самарин А.В. Жидкокристаллические дисплеи. Схемотехника, конструкция и применение / А.В.Самарин, 2002. - 287 с. - Текст : непосредственный.Schleupen K. Integrierte Ansteuerschaltungen in Dunnschichttechnik fur hochauflosende,flache Flussigkristall-Bildschirme : Diss. / K.Schleupen, 1996. - 173 S. - Текст : непосредственный.Технические условия процесса производства дисплеев на жидких кристаллах / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽