Полное описание
Коротченко, В. А.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.385.032.9(043) 621.384.002:658.562(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР90-022569)
Шифр в сводном ЭК: f4c62ab6a9c48a117705ca0f45bf30a1
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Грицкевич О.В. Исследования процессов формирования изображений произвольной геометрической формы и размеров на криволинейных поверхностях вращения с использованием лазерного излучения : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / О. В. Грицкевич, 1995. - 22 с. - Текст : непосредственный. Чесноков Б.П. Исследование физико-химических свойств электровакуумных материалов под воздействием гамма-излучения : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук / Б. П. Чесноков, 1994. - 18 с. - Текст : непосредственный. Прокофьев В.Г. Совершенствование процессов откачки, формирования эмиссионных характеристик катодов и гетметизации ЭВП : специальность 05.27.02 "Вакуумная и плазменная электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Г. Прокофьев, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный. Мельникова И.П. Разработка технологических процессов изготовления катодных систем с улучшенными физико-техническими характеристиками для мощных электровакуумных приборов / И. П. Мельникова, 2014. - 38 с. - Текст : непосредственный. Кройчук К.Л. Исследование и разработка барьерных пленок с толщинами до 100 А на входе микроканальных пластин для электровакуумных приборов 3-го поколения : специальность 05.27.06 "Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Л. Кройчук, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Бабанов А.Ж. Электрохимическое формообразование деталей электровакуумных приборов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.17.03 / А. Ж. Бабанов, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный. Емельянова Е.А. Автоматизация процесса выбора параметров импульсной обработки электродов при изготовлении электровакуумных приборов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / Е. А. Емельянова, 2009. - 16 с. - Текст : непосредственный. Коромыслова О.А. Численное исследование теплофизических и газодинамических процессов при электроплазменном напылении покрытий на деталях ЭВП и дентальных имплантатах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.09.10 / О. А. Коромыслова, 2002. - 20 с. - Текст : непосредственный. Шухат Б.А. Локализация неисправных подсхем в электронных устройствах аналогового типа : втореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05;05.09.05 / Б. А. Шухат, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный. Иванов В.И. Технологические основы модификации материалов ЭВП с использованием высокоинтенсивных ионизирующих излучений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.06 / В. И. Иванов, 1992. - 48 с. - Текст : непосредственный. Брянцев А.А. Алгоритмы вейвлет-анализа изображений в системах компьютерной обработки информации при производстве герконов и генераторных ламп : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.01 / А. А. Брянцев, 2009. - 17 с. - Текст : непосредственный. Наконечных А.С. Повышение качества покрытий путем электроплазмотермических воздействий, обеспечивающих эвтектическое плавление, развитую морфологию и пористость : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.09.10 / А. С. Наконечных, 2005. - 20 c. - Текст : непосредственный. Филимонов С.А. Повышение эксплуатационных характеристик электроплазменных геттерных и эмиссионных покрытий, применяемых в производстве электровакуумных приборов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.09.10, 05.27.02 / С. А. Филимонов, 2004. - 18 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
