• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Попков, К. А. Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем / К. А. Попков. - М. : ИПМ им. М. В. Келдыша РАН, 2016. - 12 с. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 60 за 2016 г.). - Библиогр.: с. 11-12 (10 назв.). - 59 экз. - ISSN 2071-2898. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    50.33.14004.312.054(04)

    Рубрики:
    Логические схемы -- Испытание

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/60 за 2016 г.)

    Шифр в сводном ЭК: 41dc23f7bedf2793c791583c40d3cb58



    Заказ фрагмента документа ₽