Приложение
для AndroidПолное описание
Национальная конф. по применению рентгеновского,синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов(1997;Дубна).
Национальная конференция : продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. - Дубна : [б. и.], 19 - . - В надзаг.:Объединен.ин-т ядерн.исслед... - Текст : непосредственный.
Т. 2 : Белковая кристаллография. Модулированные структуры, квазикристаллы и фуллерены. Компьютерное моделирование структуры. Малоугловое рассеяние. Поверхностно-чувствительные методы. Рентгеновская и нейтронная оптика. Спектроскопические методы. - 1997. - 452 с. : ил. - 350 экз.
Библиогр.в конце ст.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.19 | 548.7(063) | |
| 620.1(063) |
Рубрики:
Рентгеновское излучение -- Съезды и конференции
Синхротронное излучение -- Съезды и конференции
Нейтроны -- Съезды и конференции
Электроны -- Съезды и конференции
Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/55534/2)
Шифр в сводном ЭК: 06c25f95805d178c71638fc72ecb3ece
Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 2 : Белковая кристаллография. Модулированные структуры, квазикристаллы и фуллерены. Компьютерное моделирование структуры. Малоугловое рассеяние. Поверхностно-чувствительные методы. Рентгеновская и нейтронная оптика. Спектроскопические методы, 1997. - 452 с. - Текст : непосредственный.Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 1 : Научная программа РСНЭ'97. Структурный анализ. Структурная электронография, 1997. - 363 с. - Текст : непосредственный.
Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineMathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный.Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный.Recalo M.P. Complete experiment for dp and He, d backward elastic scattering / M. P. Recalo, Н. М. Пискунов, И. М. Ситник, 1997. - 17 p. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный.Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный.Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный.Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : специальность 01.07.03 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыНовые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.
Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : П Всерос.семинар с участием зарубеж.ученых,Казань,5-7 апр.1995 г.Материалы семинара / Российский фонд фундаментальных исслед. (Москва), 1995. - 142 c. - Текст : непосредственный.Direct methods of solving crystal structures : Proc.of a NATO advanced study inst./18th course of the intern. school of crystallography on direct methods of solving crystal structures,Apr.18-29,1990,Erice / International school of crystallography, 1991. - IX,445 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the workshop on materials structure research at photon factory, Tsukuba, Japan, 24 Dec., 1997 / Workshop on materials structure research at photon factory (1997 ; Tsukuba) , 1998. - 161 p. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе, 2007. - 172 с. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2006. - 306 с. - Текст : непосредственный.Modern aspects of small-angle scattering : Proc.of the NATO advanced study inst.on Modern aspects of small-angle scattering Como,May 12-22,1993 / Ed. H. Brumberger, 1994. - XV,463 p. p. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос. ун-т им. Я. Мудрого, 2004. - 144 с. - Текст : непосредственный.Велихов П.А. Доклад инж. п. с. П.А. Велихова на собрании Русского общества испытания материалов в Москве 17 ноября 1912 г. / П. А. Велихов, [1912]. - 21 с. - Текст : непосредственный.Физические методы исследования прозрачных неоднородностей : Тез. докл. / Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского, 1990. - 38 c. - Текст : непосредственный.Прецизионные структурные исследования кристаллов. Дифракционные методы, математическая обработка и результаты : II всесоюз. совещ. (Юрмала, 13-15 февр. 1990 г.): Тез. докл. / Институт кристаллографии (Москва), 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 2 : Белковая кристаллография. Модулированные структуры, квазикристаллы и фуллерены. Компьютерное моделирование структуры. Малоугловое рассеяние. Поверхностно-чувствительные методы. Рентгеновская и нейтронная оптика. Спектроскопические методы, 1997. - 452 с. - Текст : непосредственный.Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 1 : Научная программа РСНЭ'97. Структурный анализ. Структурная электронография, 1997. - 363 с. - Текст : непосредственный.Вторая Национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ-99) : Продолжение всесоюз. совещ. по применение рентген. лучей для исслед. материаловТез. докл., Москва,23-27 мая 1999 г. / Национальная конф. по применению рентгеновского,синхротронного излучений,нейтронов и электронов для исслед.материалов (2 ; 1999 ; Москва) , 1999. - 478 с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽