Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Егорова О.В. Методы оценки технологичности и контроля качества оптических систем нового поколения объективов микроскопа : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук / О. В. Егорова, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Гусаров В.Ф. Исследование и разработка оптико-электронной системы контроля пространственного положения на базе полихроматической оптической равносигнальной зоны при цифровой обработке информации / В. Ф. Гусаров, 2017. - 18 с. - Текст : непосредственный.Сиротский А.А. Проектирование позиционных лазерных измерительных систем / А. А. Сиротский, 2013. - 144 с. - Текст : непосредственный.Суранов А.Я. Разработка и исследование устройств фотометрирования на базе многоэлементных фотоприемников для систем контроля параметров изделий и технологических процессов с помощью методов дифрактометрии и спектрометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / А. Я. Суранов, 1997. - 23 с. - Текст : непосредственный.Uhde H.-M. Chromatische Hohenbestimmung mit dem konfokalen Mikroskop : Diss. / H.-M.Uhde, 1992. - 154 S. - Текст : непосредственный.Богатинский Е.М. Исследование и разработка оптико-электронных систем с планарной оптической равносигнальной зоной для контроля и управления пространственным положением объектов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.07 / Е. М. Богатинский, 2010. - 16 с. - Текст : непосредственный.Тарасов В.В. Лазерные сканирующие системы контроля геометрических параметров изделий массового производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.11.07 / В. В. Тарасов, 1998. - 45 с. - Текст : непосредственный.Лазеры в измерительной технике : Отеч.и иностр.лит.за 1989-1991 гг. / Сост.И. В.Беляева, 1992. - 332 с. - Текст : непосредственный.Быков В.А. Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов / В. А. Быков. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии и наноматериалы : материалы III междунар. науч.-техн. конф. - М. : Изд-во МГОУ, 2012. - с. 11-16.Левченко Т.В. Рефлектометр для экспресс-контроля шероховатости поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / Т. В. Левченко, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Мещеряков Ю.Ю. Использование глубоких нейронных сетей на ПЛИС в приборе ночного видения для колоризации изображения / Ю. Ю. Мещеряков. - Текст : непосредственный // Студент и наука : научный журнал / Воронежский государственный технический университет. - Воронеж : ВГТУ, 2021. - N 4. - с. 29-33Давыдов, Владимир Борисович. Разработка и проектирование лазерных измерительных приборов и систем : учебно-методическое пособие / В. Б. Давыдов, Е. М. Иващенко, Р. А. Ларичев, 2023. - 50 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Заказ фрагмента документа ₽