Полное описание
Top mit TQM (Total Quality Management) = Top with TQM(Загл.англ.) / Siemens Matsushita components GmbH & Co. - M@:unchen : [s. n.], 1994. - 19 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.384.002:658.562
Рубрики: Электронные приборы -- Качество
Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/26229)
Шифр в сводном ЭК: 8285fd42661f72a7229b9d81673ef9de
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Годжелло А.Г. Контрольные карты : Учеб. пособие по курсу "Контроль качества" / А.Г.Годжелло;Под ред. В.П.Соколова, 1997. - 48 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1436) : Специализированные средства функционального контроля : По данным отеч.и зарубеж.печати 1977-1988 г.г. / В.Н.Литвак,Е.Е.Михайлов,А.А.Топтун, 1989. - 64 с. - Текст : непосредственный. Управление качеством электронных средств : Учеб.для вузов по направлению "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" и спец."Проектирование и технология радиоэлектрон.средств","Конструирование и технология электрон.-вычислит.средств" / О.П.Глудкин,А.И.Гуров,А.И.Коробов и др.;Под ред.О.П.Глудкина, 1994. - 414 c. - Текст : непосредственный. Шухат Б.А. Локализация неисправных подсхем в электронных устройствах аналогового типа : втореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05;05.09.05 / Б. А. Шухат, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный. Волков, В. А. Производство перспективных ЭВС : Учеб.пособие. Ч. 1 : Системный подход к обеспечению качества аппаратуры конструктивно-технологическими средствами, 1998. - 170 с. - Текст : непосредственный. Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю. П. Ермолаев [и др.], 2006. - 96 с. - Текст : непосредственный. Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 1, 2005. - 79 с. - Текст : непосредственный. Абомелик Т.П. Управление качеством электронной аппаратуры : Учеб.пособие для студентов направления 55.11.00 "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" / Т.П.Абомелик;Под ред.Л.И.Волгина, 1997. - 332 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 5(1398) : Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С.А.Еремин,Д.Б.Десятов,В.В.Сысоев, 1988. - 54 с. - Текст : непосредственный. Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 2, 2007. - 96 с. - Текст : непосредственный. Власенко В.А. Микропроцессорные системы неразрушающего контроля качества изделий электронной техники / В.А.Власенко,О.И.Шкодин, 1990. - 144 c. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 6(1682) : Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1960-1991 гг. / А.В.Баскаков, 1992. - 68 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
