Приложение
для AndroidПолное описание
Advances in X-ray analysis. - New York; London : Plenum press. - Текст : непосредственный.
Vol. 36 : Proc.of the 41st annual conference on applications of X-ray analysis,Aug.3-7,1992 Colorado Springs(Co). - 1992. - XXIII,685 p. p. : ill. - ISBN 0-306-44571-9
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19 | 543.422.8(05) |
Рубрики:
Рентгеноспектральный анализ
Копия:
Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/2471/36)
Шифр в сводном ЭК: 8aaa77b4914bc4da71af2ac3ce8b231d
Гольц Л.Г. Вольтамперометрическое определение рения в минеральном и техногенном сырье : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Л. Г. Гольц, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный.Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Кирющенков Е.Н. Каталитические и сорбционно-каталитические методы определения металлов с использованием реакции окисления 3,3',5,5'-тетраметилбензидина периодатом : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Е. Н. Кирющенков, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Cyganski A. Metody spektroskopowe w chemii analitycznej / A. Cyganski, 1993. - 378 s. - Текст : непосредственный.Сильверстейн Р. Спектрометрическая идентификация органических соединений / Р. Сильверстейн, Ф. Вебстер, Д. Кимл, 2012. - 557 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Нехаевский С.Ю. Экстракция хлоридов кадмия и цинка три-н-бутилфосфатом : специальность 05.17.02 "Технология редких, рассеянных и радиоактивных элементов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Нехаевский, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллов-анализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2P-элементов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / А. В. Окотруб, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный.Bender C.J. Computational and instrumental methods in EPR / C. J. Bender, L. J. Berliner, 2007 r=on-lineMartin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Твердофазная колориметрия / С. В. Качин, О. Н. Кононова, О. П. Калякина, 1997. - 101 с. - Текст : непосредственный.Гусев А.Я. Времяпролетный масс-спектрометр с увеличенной эффективной областью собирания ионов / А. Я. Гусев, В. А. Кочнев, Г. Г. Манагадзе, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыФизические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный.
Шевченко Л.В. Two-flux Monte-Karlo approach to electron diffusion in solids / Л.В.Шевченко,Б.Н.Юрченко, 1990. - 13 p. - Текст : непосредственный.Meisel A. X-ray Spectra and chemical binding / A.Meisel,G.Leonhardt,R.Szargan;Transl. from German by E. K@:allne, 1989. - VIII, 458 p. 458 p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 32 : Proc.of the 37th annu., Denver conf.on applications of X-ray analysis, Steamboat Springs(Co), 1988. - 681 p. - Текст : непосредственный.Zschornack G. Atomdaten fur die Rontgenspektralanalyse / G.Zschornack, 1989. - 608 S. - Текст : непосредственный.Плюто И.В. Применение метода РФС для анализа состава поверхности нанесенных систем : Препринт / И. В. Плюто, А. П. Шпак, С. В. Миловзоров, 1991. - 9 с. - Текст : непосредственный.Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской, 2013. - 582 с. - Текст : непосредственный.Соколов Н.А. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / Н.А.Соколов, 1990. - 41 c. - Текст : непосредственный.Рид С.Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др., 2008. - 229 с. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 33 : Proceedings of the 38th annual conference on applications of X-ray analysis held July 31-Aug.4,1989 Denver(Co), 1990. - XX,704 p. p. - Текст : непосредственный.Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова, 2007. - 671 с. - Текст : непосредственный.Борходоев В.Я. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / В.Я.Борходоев, 1996. - 89 с. - Текст : непосредственный.Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный.Avaldi L. Thick target Ka X-ray yields for 66 elements from Na to Pb induced by 1-100 MeV protons / L.Avaldi,S.Bassi, 1990. - 180 kol. - Текст : непосредственный.Руководство для пользователя системы EX-6000 / ВЦП. - 93 с. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 35A : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - XXX,691 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Аппаратура и методы рентгеновского анализа : Сб.ст. / Спец.конструкт.бюро рентген.аппаратуры. Вып. 40, 1990. - 288 с. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 32 : Proc.of the 37th annu., Denver conf.on applications of X-ray analysis, Steamboat Springs(Co), 1988. - 681 p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 33 : Proceedings of the 38th annual conference on applications of X-ray analysis held July 31-Aug.4,1989 Denver(Co), 1990. - XX,704 p. p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 35A : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - XXX,691 p. p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 35B : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - 693-1333 p. p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 36 : Proc.of the 41st annual conference on applications of X-ray analysis,Aug.3-7,1992 Colorado Springs(Co), 1992. - XXIII,685 p. p. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽