• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Быков, В. А. Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов / В. А. Быков. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии и наноматериалы : материалы III междунар. науч.-техн. конф. - М. : Изд-во МГОУ, 2012. - С. 11-16.
    ГРНТИ 59.14.23

    Аннотация: Речь идет об исследовательских инструментах нанофабах, разработкой и производством которых занимается компания НТ-МДТ.
    Экз-ры полностью 4cde08ed9b03f0732cfdafda9e2d185f
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -465491-387504)

    Шифр в сводном ЭК: 291879aecf3386fe0a3d1115b4f55c5b




    Заказ фрагмента документа ₽