• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011 (Чебоксары). - 590 с. : ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр. в конце разд. - 1000 экз. - ISBN 978-5-98704-613-5. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    90.03620.3:006.91
    ББК
    30.10

    Рубрики:
    Нанотехнологии -- Метрологическое обеспечение

    Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ -- МЕТРОЛОГИЯ -- НАНОИНДУСТРИЯ -- НАНОТЕХНОЛОГИЯ
    Аннотация: Обеспечение единства измерений в РФ и в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий.
    Доп. точки доступа:
    Анашина, О.Д.
    Андрюшечкин, С.Е.
    Аневский, С.И.
    Бражников, В.В.
    Булыгин, Ф.В.
    Головань, Л. А.
    Горшкова, Т. Б.
    Гусев, А. С.
    Демин, А. В.
    Заботнов, С. В.
    Золотаревский, С. Ю.
    Золотаревский, Ю. М.
    Иванов, В. С.
    Ильин, А. П.
    Качак, В. В.
    Кашкаров, П. К.
    Клековкин, И. В.
    Кононогов, С. В.
    Коршунов, А. В.
    Крутиков, В. Н.
    Котюк, А. Ф.
    Лахов, В. М.
    Левин, А. Д.
    Левин, Г. Г.
    Лысенко, В. Г.
    Лясковский, В. Л.
    Мазуренко, С. Н.
    Минаева, О. А.
    Минаев, Р. В.
    Морозова, С. П.
    Новиков, Н. Ю.
    Окрепилов, В. В.
    Панкина, Г. В.
    Панов, В. И.
    Рукин, Е. М.
    Савченко, А. Г.
    Саприцкий, В. И.
    Тодуа, П. А.
    Толбанова, Л. О.
    Федянин, А. А.
    Хлевной, Б. Б.
    Широков, С. С.
    Шувалов, Г. В.
    Элькин, Г. И.
    Крутиков, В.Н.\ред.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-11/84298)

    Шифр в сводном ЭК: 52af6b432c4c95c59b571c35d474a687



    Заказ фрагмента документа ₽