Полное описание
Руководство для пользователя системы EX-6000 / ВЦП. - 93 с. : ил. - Пер. материала фирмы: Model EX-6000 ED-XRF System. Owner's manual / Kurt Mitterfellner GmbH. - 1989. - P.1-90. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ 31.05.35 Рубрики: Держатели документа:
Шифр в сводном ЭК: 85c2d0ba495d5f80dbadb3e812495eaa
Метод измерения содержания водорода в бинарных и квазибинарных газовых смесях / Е. В. Колбасов, В. Н. Разваляев, С. Н. Речкунов, С. А. Студеникин, 1995. - 11 c. - Текст : непосредственный. Атомно-Абсорбционная система Laboratory Benchtop. - 61 c. - Текст : непосредственный. Атомно-абсорбционная система Laboratory Benchtop. - 70 c. - Текст : непосредственный. Окно стандартных условий: MHS-FIAS. - 43 c. - Текст : непосредственный. Conzen J.-P. Entwicklung und Charakterisierung einer faseroptischen Messsonde zur quantitativen In-situ-Bestimmung wassriger Losungen von Chlorkohlenwasserstoffen / J.-P. Conzen, 1994. - 151 S. - Текст : непосредственный. Barunke B. Elektrochemische Untersuchungen an einem Sensor fur Wasserstoffgas / B. Barunke, 1993. - 183 S. - Текст : непосредственный. Баранов В.С. Сверхтонкие расщепления и ширина линий ЭПР стабильных радикалов, содержащих группу NO, в слабых магнитных полях : специальность 01.04.03 "Радиофизика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / В. С. Баранов, 1994. - 18 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Ульянова Н.С. Фокусирующие системы на основе цилиндрических электродов для формирования пучков на входе в энерго-и масс-анализаторы : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / Н. С. Ульянова, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный. Федюнькин С.Д. Автоматизированный ЭПР-анализатор для прикладной радиоспектроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.09 / С. Д. Федюнькин, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный. Букреев Д.В. Адаптивный высокочастотный бесконтактный микропроцессорный кондуктометр : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук:05.11.13 / Д. В. Букреев, 1999. - 16 с. - Текст : непосредственный. Головин В.В. Анализ импульсных измерительных преобразователей на примере контактного кондуктометра : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.13 / В. В. Головин, 1999. - 16 с. - Текст : непосредственный. Фальковская А.Л. Определение ионов меди в природных водах и технологических растворах, содержащих органические красители, методом ионометрии : автореф. дис. .. канд. хим. наук: 03.00.16 / А. Л. Фальковская, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный. Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Шевченко Л.В. Two-flux Monte-Karlo approach to electron diffusion in solids / Л.В.Шевченко,Б.Н.Юрченко, 1990. - 13 p. - Текст : непосредственный. Meisel A. X-ray Spectra and chemical binding / A.Meisel,G.Leonhardt,R.Szargan;Transl. from German by E. K@:allne, 1989. - VIII, 458 p. 458 p. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 32 : Proc.of the 37th annu., Denver conf.on applications of X-ray analysis, Steamboat Springs(Co), 1988. - 681 p. - Текст : непосредственный. Zschornack G. Atomdaten fur die Rontgenspektralanalyse / G.Zschornack, 1989. - 608 S. - Текст : непосредственный. Плюто И.В. Применение метода РФС для анализа состава поверхности нанесенных систем : Препринт / И. В. Плюто, А. П. Шпак, С. В. Миловзоров, 1991. - 9 с. - Текст : непосредственный. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской, 2013. - 582 с. - Текст : непосредственный. Соколов Н.А. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / Н.А.Соколов, 1990. - 41 c. - Текст : непосредственный. Рид С.Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др., 2008. - 229 с. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 33 : Proceedings of the 38th annual conference on applications of X-ray analysis held July 31-Aug.4,1989 Denver(Co), 1990. - XX,704 p. p. - Текст : непосредственный. Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова, 2007. - 671 с. - Текст : непосредственный. Борходоев В.Я. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / В.Я.Борходоев, 1996. - 89 с. - Текст : непосредственный. Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный. Avaldi L. Thick target Ka X-ray yields for 66 elements from Na to Pb induced by 1-100 MeV protons / L.Avaldi,S.Bassi, 1990. - 180 kol. - Текст : непосредственный. Руководство для пользователя системы EX-6000 / ВЦП. - 93 с. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 35A : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - XXX,691 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
