Полное описание
Кирьянов, А. П.
ГРНТИ УДК 90.27.37 681.785.35(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар07-8905)
Шифр в сводном ЭК: 60b495f4abf6b9c4c2a3c578b1ed95dc
Сарвин А.А. Оптические и оптоэлектронные методы бесконтактных измерений геометрических параметров : специальность 05.02.11 "Методы контроля и диагностика в машиностроении" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. А. Сарвин, 2002. - 42 с. - Текст : непосредственный. Suda M. Quantum interferometry in phase space / M. Suda, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Свиташева С.Н. Эллипсометрия шероховатых поверхностей : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / С. Н. Свиташева, 2009. - 29 с. - Текст : непосредственный. Краснопевцев Е.А. Панорамная интерферометрия объектов круговой цилиндрической формы : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Е. А. Краснопевцев, 2006. - 37 с. - Текст : непосредственный. In-process optical measurements : материалы временных коллективов / Ed. K. H. Spring, 1989. - VIII,241 p. p. - Текст : непосредственный. Ильин В.Н. Оптико-электронные методы и приборы прецизионного контроля геометрических и оптических параметров технических микрообъектов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. Н. Ильин, 2003. - 45 с. - Текст : непосредственный. Белозеров А.Ф. Оптические методы и средства контроля параметров неоднородных прозрачных сред с большим размеров рабочего поля : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. Ф. Белозеров, 2003. - 35 с. - Текст : непосредственный. Осипов Н.И. Разработка и исследование оптико-электронных измерительных устройств на основе многоэлементного фотоприемника мультискана : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. И. Осипов, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный. Орлов М.Л. Электронный транспорт, детектирование и эмиссия терагерцового излучения в полупроводниковых гетероструктурах / М. Л. Орлов, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Свиташева С.Н. Эллипсометрия шероховатых поверхностей : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / С. Н. Свиташева, 2009. - 29 с. - Текст : непосредственный. Хасанов Т. Поляриметрия и эллипсометрия в исследовании поляризующих оптических систем : специальность 01.04.05 "Оптика" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Т. Хасанов, 2010. - 31 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Федоринин В.Н. Исследование и разработка спектральных эллипсометров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Н. Федоринин, 1992. - 23 с. - Текст : непосредственный. Косырев Н.Н. Магнитооптический эллипсометрический комплекс для получения и исследования наноструктур в установке молекулярно-лучевой эпитаксии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Н. Н. Косырев, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный. Ковалев В.И. Методы и приборы лазерной и спектральной эллипсометрии с бинарной модуляцией состояния поляризации : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 01.04.01 / В. И. Ковалев, 2011. - 33 с. - Текст : непосредственный. Кирьянов А.П. Холоэллипсометрия in situ слоистых структур: основы, методы и средства : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / А. П. Кирьянов, 2007. - 31 с. - Текст : непосредственный. Спесивцев Е.В. Исследование и разработка лазерных сканирующих эллипсометров высокого пространственного разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.07 / Е. В. Спесивцев, 2001. - 23 с. - Текст : непосредственный. Friedl A. Aufbau eines in-situ-IR-Spektralellipsometers zur Charakterisierung plasmadeponierter C:H-Schichten : Diss. / A.Friedl, 1994. - 91 S. - Текст : непосредственный. Ковалев, Владимир Витальевич. Светодиодный эллипсометр со статичной схемой измерения оптических констант и толщин тонких пленок : 05.11.16 - Информационно-измерительные и управляющие системы: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Ковалев Владимир Витальевич, 2020. - 23 с. - Текст : непосредственный. Гайдукасов, Рафаэль Алексеевич. Характеризация наноструктурированных материалов микроэлектроники методами спектральной эллипсометрии и рефлектометрии : научная специальность: 2.2.2. "Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств": автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук / Гайдукасов Рафаэль Алексеевич, 2025. - 21 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
