Полное описание
Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. - Berlin [etc.] : Springer. - Текст : непосредственный. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques. - 1992. - XI,308 p. p. : ill. - (Springer series in surface sciences ; n 28). - ISBN 3-540-54555-7
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35
Рубрики: Микроскопия туннельная
Экз-ры полностью f0cd2ce63218df16ea6704b176448db3 Копия: Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/15188/N 28/2)
Шифр в сводном ЭК: f0cd2ce63218df16ea6704b176448db3
Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. structure of surfaces III : материалы временных коллективов / Ed. S. Y. Tong, 1991. - XVIII,683 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Surface phonons / ed. W. Kress, ed. F. W.de Wette, 1991. - 301 p. - Текст : непосредственный. Lannoo M. Atomic and electronic structure of surfaces : Theoretical foundations / M.Lannoo,P.Friedel, 1991. - XII,256 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный. Dynamics of gas-surface interactions : atomic-level understanding of scattering processes at surfaces / Ed. R. D. Muino, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Kelvin probe force microscopy. Measuring and compensating electrostatic forces / ed.: S. Sadewasser, T. Glatzel, 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Шелковников Е.Ю. Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников, 2008. - 250 с. - Текст : непосредственный. Сканирующая туннельная микроскопия : Руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута, 1997. - 42 с. - Текст : непосредственный. Андреева Н.В. Экспериментальные методы исследования. Методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : учеб. пособие / Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин, 2015. - 104 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный. Springer series in optical sciences / ed. W. T. Rhodes [et al.]. 99 : Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy. Route to femtosecond Angstrom technology / ed. M. Yamashita [et al.], 2005. - XX, 389 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
