Полное описание
Berakdar, J. ISBN 3-527-40350-7. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.37 537.533
Рубрики: Электронная спектроскопия
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27253)
Шифр в сводном ЭК: 02f1eff82e25064a8d0903d7000fe573
Лепорис М. Разработка и исследование источника многозарядных ионов ЭЦР-типа с модифицированной структурой аксиального магнитного поля (DECRIS-4) / М. Лепорис, 2005. - 22 с. - Текст : непосредственный. Molokovsky S.I. Intense electron and ion beams / S. I. Molokovsky, A. D. Sushkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Winter H. Slow heavy-particle induced electron emission from solid surfaces / H. Winter, J. Burgdorfer, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Reckenfelderbaumer R. Entwicklung des Casiumstrahlteils einer Quelle polarisierter Ionen nach dem Colliding-Beams-Prinzip / R. Reckenfelderbaumer, 1995. - 154 S. - Текст : непосредственный. Ларионов А.В. Программа для численного моделирования транспортировки неаксиально-симметричных электронных пучков в протяженных каналах / А. В. Ларионов, 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный. Pivarc J. Production of ion beams with the use of ECR ion sources / J. Pivarc, A. N. Lebedev, J. Pivarc, 1997. - 16 p. - Текст : непосредственный. Носков Д.А. Электронно-ионное оборудование технологического назначения, 1973. - 116 с. - Текст : непосредственный. Визирь А.В. Генерирование широкоапертурных ионных пучков и потоков плазмы на основе тлеющего разряда с полым катодом и внешней инжекцией электронов : специальность 05.27.02 "Вакуумная и плазменная электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Визирь, 2000. - 15 с. - Текст : непосредственный. Ерин А.И. Моделирование эмиссии электронов средних энергий методом Монте-Карло / А. И. Ерин, 2010. - 16 с. - Текст : непосредственный. Акишин П.Г. Расчет магнитной структуры ионного источника Decris - 14 / П. Г. Акишин, А. А. Ефремов, В. Б. Кутнер, 1991. - 4 с. - Текст : непосредственный. Взаимодействие ионов с поверхностью : ВИП-14:Материалы 14-й Междунар.конф.,30 авг.-3 сент.1999 г.,Звенигород / Российская академия наук. Научный совет по физике плазмы. Т. 1, 1999. - 384 с. - Текст : непосредственный. Взаимодействие ионов с поверхностью : ВИП-14:Материалы 14-й Междунар.конф.,30 авг.-3 сент.1999 г.,Звенигород / Российская академия наук. Научный совет по физике плазмы. Т. 2, 1999. - 360 с. - Текст : непосредственный. Яковлев Б.В. Исследование характеристик термополевого ионного источника методами моделирования : специальность 01.01.07 "Вычислительная математика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Б. В. Яковлев, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный. Оптимизация выхода четырехзарядных ионов урана из ионного источника с вакуумной дугой / В. А. Баталин, Р. П. Куйбида, Т. В. Кулевой, С. В. Петренко, 1995. - 8 c. - Текст : непосредственный. Браун Я. Физика и технология источников ионов / Я. Браун, Я. Браун, Р. Келлер, А. Холмс, 1998. - 495 с. - Текст : непосредственный. Suppression of accelerated electrons in a high-current large negative ion source / Y. Takeiri, Y. Oka, M. Osakabe, K. Tsumori, 1996. - 15 p. - Текст : непосредственный. Коненков Н.В. Движение ионов в квадрупольных полях высоких зон стабильности : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. В. Коненков, 1995. - 38 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Вторичная электронная эмиссия рельефной поверхности твердого тела : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Ю. А. Новиков, 1995. - 37 с. - Текст : непосредственный. Никитенков Н.П. Процессы при ионном распылении поверхности твердых тел и энерго-масс-спектрометрия вторичных ионов : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. П. Никитенков, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Чуркин И. Universal metal ion source / И. Чуркин, A. Steshov, V. Volosov, 1997. - 12 p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Доломатов, М. Ю. Электронная феноменологическая спектроскопия и ее применение в исследовании сложных веществ в технологии, химии, нанофизике и медицине : монография. Ч. 1 : Электронная феноменологическая спектроскопия в исследовании свойств и структуры молекул и наночастиц, 2019. - 321 с. - Текст : непосредственный. Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок / С.С.Еловиков, 1992. - 94 с. - Текст : непосредственный. Dacca A. Tecniche di spettroscopia elettronica per l'analisi di superfici / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1997. - 15 p. - Текст : непосредственный. Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes. Vol. 123 : Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons , 2002. - XVI,462 p. p. - Текст : непосредственный. Yuan Z.W. Exelfs studies of the atomic fine structure in solids with a convergent beam diffraction coupled eels spectrometer system : Diss / Z.W.Yuan, 1993. - Pag.var. - Текст : непосредственный. Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный. Соколов О.Б. Развитие экспериментальных возможностей метода электронной спектроскопии с использованием магнитного энергоанализа : Учеб. пособие / О.Б.Соколов,В.Л.Кузнецов, 1990. - 56 c. - Текст : непосредственный. Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный. Berakdar J. Electronic correlation mapping : from finite to extended systems / J.Berakdar, 2006. - XIII, 192 p. - Текст : непосредственный. Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный. Бутлеровское наследие : серия / Министерство образования и науки Российской Федерации, Уфимский государственный нефтяной технический университет. Кн. 6 : Электронная феноменологическая спектроскопия и её применение в исследовании сложных молекулярных систем в химии, технологии, физике и медицине : монография / М. Ю. Доломатов, М. М. Доломатова, Г. М. Сидоров [и др.] ; под научной редакцией М. Ю. Доломатова, 2024. - 308 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Лепорис М. Разработка и исследование источника многозарядных ионов ЭЦР-типа с модифицированной структурой аксиального магнитного поля (DECRIS-4) / М. Лепорис, 2005. - 22 с. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Molokovsky S.I. Intense electron and ion beams / S. I. Molokovsky, A. D. Sushkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Buts V.A. The theory of coherent radiation by intense electron beams / V. A. Buts, A. N. Lebedev, V. Kurilko, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Sigmund P. Particle penetration and radiation effects / P. Sigmund, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Winter H. Slow heavy-particle induced electron emission from solid surfaces / H. Winter, J. Burgdorfer, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Никулин М.Г. Волновые коллективные процессы в каналах транспортировки релятивистских электронных пучков : специальность 01.04.02 "Теоретическая физика", 01.04.08 "Физика плазмы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Г. Никулин, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Reckenfelderbaumer R. Entwicklung des Casiumstrahlteils einer Quelle polarisierter Ionen nach dem Colliding-Beams-Prinzip / R. Reckenfelderbaumer, 1995. - 154 S. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Ларионов А.В. Программа для численного моделирования транспортировки неаксиально-симметричных электронных пучков в протяженных каналах / А. В. Ларионов, 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный. Vacuum arc source of metal ions / V. A. Batalin, J. N. Volkov, T. V. Kulevoy, S. V. Petrenko, 1991. - 24 p. - Текст : непосредственный. Вакуумно-дуговой источник ионов металлов / В. А. Баталин, Ю. Н. Волков, Т. В. Кулевой, С. В. Петренко, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный. Страшкевич А.М. Электронная оптика электростатических полей, не обладающих осевой симметрией / А. М. Страшкевич, 1959. - 251 с. - Текст : непосредственный. Гришин В.К. Физика интенсивных пучков заряженных частиц / В. К. Гришин, 1992. - 107 с. - Текст : непосредственный. Pivarc J. Production of ion beams with the use of ECR ion sources / J. Pivarc, A. N. Lebedev, J. Pivarc, 1997. - 16 p. - Текст : непосредственный. Носков Д.А. Электронно-ионное оборудование технологического назначения, 1973. - 116 с. - Текст : непосредственный. Production of heavy ion beams by operating Serse in DC mode and afterglow mode / S. Gammino, G. Ciavola, L. Celona, A. Girard, 2000. - 7 p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
