• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Кутавичюс, В. П. Интерференционно-спектрометрические методы определения оптических параметров и толщины тонких пленок : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / В. П. Кутавичюс. - 2004. - 20 с : ил. - Библиогр.: с. 16-17(11 назв.). - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Нац. АН Беларуси, Ин-т физики им.Б.И.Степанова

    ГРНТИ УДК
    29.19535.415(043)
    531.717.11(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар05-6081)

    Шифр в сводном ЭК: a60c708130ce9a16c02313dc608e1654



    Заказ фрагмента документа ₽