Полное описание
> Мирзаев, Д. А. Техника рентгеновского дифракционного эксперимента : учеб. пособие / Д.А.Мирзаев,Ю.Н.Гойхенберг. - Челябинск : [б. и.], 1991. - 42 с. : ил. - 150 экз. - Текст : непосредственный. В надзаг.:Челяб.гос.техн.ун-т,Каф.металловедения.Библиогр.:с.41(6 назв.).
Рубрики: Рентгеноструктурный анализ
Доп. точки доступа: Гойхенберг, Ю.Н.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-91/1186)>
Шифр в сводном ЭК: 4b174e7cd2f7dad7f278b4750e79d391
Мирзаев Д.А. Физические основы прочности : Учеб.пособие. Ч. 1, 2000. - 142 с. - Текст : непосредственный. Гойхенберг Ю.Н. Разработка аустенитных сталей с высоким сопротивлением коррозионному растрескиванию и методов их комбинированного упрочнения : специальность 05.16.01 "Металловедение и термическая обработка металлов и сплавов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Ю. Н. Гойхенберг, 1995. - 37 с. - Текст : непосредственный. Гойхенберг Ю.Н. Растровая электронная микроскопия в металловедении / Ю. Н. Гойхенберг, В. А. Протопопов, И. В. Лапина, 1997. - 29 с. - Текст : непосредственный. Счастливцев, Вадим Михайлович. Структура термически обработанной стали / В. М. Счастливцев, Д. А. Мирзаев, И. Л. Яковлева, 1994. - 288 c. - Текст : непосредственный. Металловедение, физика и механика применительно к процессу обработки графитированных материалов. Структура и износостойкость инструментов / А. Н. Емелюшин, Д. А. Мирзаев, Н. М. Мирзаева, 2002. - 201 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Литой инструмент из хромистых чугунов. Структура и свойства : монография / А. Н. Емелюшин [и др.], 2016. - 186 с. - Текст : непосредственный. Перлит в углеродистых сталях / В. М. Счастливцев [и др.], 2006. - 311 с. - Текст : непосредственный. Гойхенберг Ю.Н. Кристаллография и кристаллохимия : Конспект лекций / Ю.Н.Гойхенберг,С.В.Рущиц, 2002. - 49 с. - Текст : непосредственный. Мирзаев Д.А. Техника рентгеновского дифракционного эксперимента : Учеб. пособие / Д.А.Мирзаев,Ю.Н.Гойхенберг, 1991. - 42 с. - Текст : непосредственный. Мирзаев, Д. А. Физические основы прочности : Учеб.пособие. Ч. 2 / Д.А. Мирзаев, К.Ю. Окишев, 2004. - 132 с. - Текст : непосредственный. Развитие идей академика В. Д. Садовского : сб. тр. / В. М. Счастливцев [и др.]; отв. ред.: М. А. Филиппов, Ю. В. Каледина, 2008. - 409 с. - Текст : непосредственный. Мирзаев Д.А. Определение остаточных напряжений и плотности дислокаций рентгеновским и электронномикроскопическим методами : Учеб. пособие / Д.А.Мирзаев,Ю.Н.Гойхенберг, 1990. - 22 c. - Текст : непосредственный. Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный. Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный. Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный. Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный. Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный. Recalo M.P. Complete experiment for dp and He, d backward elastic scattering / M. P. Recalo, Н. М. Пискунов, И. М. Ситник, 1997. - 17 p. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный. Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный. Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный. Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : специальность 01.07.03 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный. Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный. Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный. Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный. Stanglmeier F. Bestimmung der dispersiven Korrektur f'(E) zum Atomformfaktor aus der Totalreflexion von Rontgenstrahlen / F. Stanglmeier, 1990. - 151 S. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный. Суворов Э.В. Экспериментальное обнаружение явления дифракционной фокусировки рентгеновских лучей : (препринт) / Э. В. Суворов, В. И. Половинкина, 1974. - 4 с. - Текст : непосредственный. Андреева В.Д. Основы рентгеновского анализа материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, 2019. - 84 с. - Текст : непосредственный. Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Baryshevsky V.G. Parametric x-ray radiation in crystals / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Gamma-ray Diffractometer at the ET-RR-1 Reactor for Material Science Research / A. I. Kurbakov, R. M. Maayouf, A. E. Sokolov, 1994. - 22 p. - Текст : непосредственный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный. Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный. Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный. Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Рентгеноструктурные исследования модулированных фаз в монокристаллах К (NbO)[Si O],BaAl Si O ,H O, Ba Ti O и Na TiP O : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Н. Б. Болотина, 1995. - 25 с. - Текст : непосредственный. Носков А.В. Эффекты динамической дифракции в когерентном рентгеновском излучении релятивистских электронов в кристаллах / А. В. Носков, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный. Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный. Голуб Ю.В. Методы расчета рентгеновских фокусирующих систем : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ю. В. Голуб, 1996. - 23 с. - Текст : непосредственный. Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный. Турьянский А.Г. Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур : специальность 01.04.05 "Оптика" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Г. Турьянский, 2009. - 43 с. - Текст : непосредственный. Овчинникова Е.Н. Резонансная дифракция рентгеновского и мессбауэровского излучения в регулярных, модулированных и дефектных кристаллах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Е. Н. Овчинникова, 2001. - 31 с. - Текст : непосредственный. Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный. Босак А.А. Методы анализа неупругого рассеяния рентгеновского излучения для определения параметров атомной динамики функциональных материалов : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. А. Босак, 2010. - 32 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽