Полное описание
Гоголинский, К. В.
ГРНТИ УДК 29.35.43 620.186(043)
Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар15-8540)
Шифр в сводном ЭК: 4bd3f7e85d021d91feebd680894f28dc
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Теория информации, метрология, неопределенность измерения : учебное пособие / К. В. Гоголинский, Б. Я. Литвинов, М. В. Окрепилов, В. М. Станякин, 2017. - 75 с. - Текст : непосредственный. Применение атомно-силовой микроскопии для исследования микроструктуры твердых сплавов на основе карбида, вольфрама / К.В.Гоголинский,В.И.Кудрявцева,С.В.Новиков,В.НРешетов, 1996. - 19 c. - Текст : непосредственный. Гоголинский К.В. Разработка методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения механических и топологических характеристик поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.05, 01.04.07 / К. В. Гоголинский, 2000. - 23 с. - Текст : непосредственный. Гоголинский К.В. Средства и методы контроля геометрических параметров и механических свойств твердых тел с микро- и нанометровым пространственным разрешением : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.11.13 / К. В. Гоголинский, 2015. - 40 с. - Текст : непосредственный. Усеинов С.С. Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе / С.С. Усеинов, В.В. Соловьев, К.В. Гоголинский. - Текст : непосредственный // Нанотехника : инженер. журн. - М. - 2008. - № 1. - с. 111-115 Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Маслов К.И. Методы импульсивной ультразвуковой микроскопии для исследования локальной структуры твердых тел : специальность 01.04.06 "Акустика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / К. И. Маслов, 1993. - 14 14с. - Текст : непосредственный. Жихарев А.В. Разработка устройств для исследования локальной химической структуры поверхности материалов методом химической силовой микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Жихарев, 2004. - 24 с. ил. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Рудых Н.В. Оценка эффективности упрочнения поверхностным пластическим деформированием на основе компьютерной микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.02.08 / Н. В. Рудых, 2011. - 18 с. - Текст : непосредственный. Мороков Е.С. Импульсная акустическая микроскопия для визуализации малоразмерных элементов в объеме материалов и на границах их соединений : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Е. С. Мороков, 2018. - 23 с. - Текст : непосредственный. Маев Р.Г. Методы акустической микроскопии в исследовании микроструктуры и физико-химических свойств материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :01.04.01 / Р. Г. Маев, 2002. - 50 с. - Текст : непосредственный. Гоголинский К.В. Разработка методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения механических и топологических характеристик поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.05, 01.04.07 / К. В. Гоголинский, 2000. - 23 с. - Текст : непосредственный. Дин Цзиньвэнь.Принципы формирования и применения ультракоротких зондирующих импульсов в акустической микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Дин Цзиньвэнь, 2010. - 29 с. - Текст : непосредственный. Гоголинский К.В. Средства и методы контроля геометрических параметров и механических свойств твердых тел с микро- и нанометровым пространственным разрешением : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.11.13 / К. В. Гоголинский, 2015. - 40 с. - Текст : непосредственный. Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный. Чжан Сунгэнь.Разработка методов акустической микроскопии для исследования структуры и свойств твердотельных материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / Чжан Сунгэнь, 1995. - 24 с. - Текст : непосредственный. Черномырдин, Никита Викторович. Терагерцовая микроскопия субволнового пространственного разрешения на основе эффекта твердотельной иммерсии : 01.04.05 - Оптика: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Черномырдин Никита Викторович, 2021. - 24 с. - Текст : непосредственный. Титов, Сергей Александрович. Многоэлементная акустическая микроскопия : специальность: 1.3.2. "Приборы и методы экспериментальной физики": автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук / Титов Сергей Александрович, 2022. - 38 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
