Полное описание
Акулинин, С. А.
ГРНТИ УДК 47.33.31 621.3.049.77.004.6(043) 47.13.23 621.396.6.019.3(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР99-сф110)
Шифр в сводном ЭК: a321f731893f714ba1f78b8c7c8463ab
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный. Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный. Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный. Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный. Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный. Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный. Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный. Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный. Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный. Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный. Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный. Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный. Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный. Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный. Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный. Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный. Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный. Сибагатуллин А.Г. Повышение помехоустойчивости аналого-цифровых систем на кристалле средствами адаптивной коррекции сложных функциональных блоков / А. Г. Сибагатуллин, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный. Красников Г.Я. Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Морозов Е.А. Метод анализа усталостной долговечности радиоэлектронной аппаратуры на основе математического моделирования термопрочностных процессов / Е. А. Морозов, 2015. - 19 с. - Текст : непосредственный. Тихменев А.Н. Метод имитационного моделирования для проектной оценки показателей безотказности структурно-сложной радиоэлектронной аппаратуры / А. Н. Тихменев, 2013. - 18 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Титов А.В. Влияние окисления металлических радиотехнических материалов на характеристики надежности радиоэлектронного оборудования : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.09.02, 01.04.14 / А. В. Титов, 2012. - 18 с. - Текст : непосредственный. Карпов О.В. Индивидуальное прогнозирование параметров и компонентов микросборок и узлов радиоэлектронных устройств передачи информации : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.12.04 / О.В. Карпов, 2005. - 18 c. - Текст : непосредственный. Урюпин И.С. Разработка автоматизированной подсистемы анализа надежности несущих конструкций радиоэлектронных средств с учетом внешних воздействий : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.12 / И. С. Урюпин, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Платонова Л.И. Методические основы формирования системы контроллинга длительного жизненного цикла инновационной наукоемкой радиоэлектронной продукции : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.05 / Л. И. Платонова, 2008. - 25 с. - Текст : непосредственный. Савченко В.П. Методы и модели исследования остаточного ресурса изделий радиоэлектронной техники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.12.13 / В. П. Савченко, 1999. - 35 с. - Текст : непосредственный. Тихомиров М.В. Разработка автоматизированной подсистемы обеспечения показателей безотказности и долговечности радиоэлектронных средств на основе комплексного моделирования физических процессов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.12 / М. В. Тихомиров, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный. Раченкова А.В. Исследование причин дефектообразования в процессе производства пластин кремния : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.06 / А. В. Раченкова, 1998. - 23 с. - Текст : непосредственный. Кравченко Е.В. Численный анализ влияния деградации компонентов радиотехнических устройств из полимерных материалов на показатели надежности : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.12.04, 01.04.14 / Е. В. Кравченко, 2007. - 26 с. - Текст : непосредственный. Акулинин С.А. Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / С. А. Акулинин, 1999. - 30 с. - Текст : непосредственный. Васильчиков С.А. Исследование и разработка путей повышения надежности приборов на базе печатных узлов с учетом тепловых воздействий : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14, 05.13.12 / С. А. Васильчиков, 2006. - 23 с. - Текст : непосредственный. Kaeber U. Elektromigration in Aluminium-Leiterbahnen_ : Diss. / U.Kaeber, 1992. - 119 S. - Текст : непосредственный. Vollkommer F. Mechanische Relaxationsspektroskopie an Aluminium-Metallisierungsschichten fur die Mikroelektronik : Diss. / F.Vollkommer, 1989. - 82 S. - Текст : непосредственный. Boeth H. Untersuchungen zur Mehrphasendiffusion im System Gold-Aluminium mittels Auger-Elektronen-Spektroskopie : Diss. / H.Boeth, 1993. - 167 S. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
