Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСтроев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Захаров А.Г. Диагностика глубоких энергетических уровней в полупроводниковых структурах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. Г. Захаров, 1990. - 33 с. - Текст : непосредственный.Бухалов Л.Л. Физико-химические процессы при формировании активных структур на поверхности арсенида галлия и их оптический контроль при создании интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук: 02.00.04 / Л. Л. Бухалов, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Остроухов С.С. Повышение качества и надежности серийного производства МДП ИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.01 / С. С. Остроухов, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный.Королев А.А. Методы и средства повышения эффективности контроля качества микросхем в процессе производства : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / А.А. Королев, 2005. - 18 с. - Текст : непосредственный.Баранов В.В. Конструктивно-технологические методы обеспечения качества силицид- и оксидсодержащих блоков токопроводящих систем изделий полупроводниковой электроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / В. В. Баранов, 1990. - 51 с. - Текст : непосредственный.Чернышов А.А. Разработка интегральных сорбционных преобразователей влажности и температуры для контроля атмосферы в корпусах интегральных микросхем и методик определения тепловых сопротивлений корпусов и содержания влаги в их объеме : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. А. Чернышов, 1991. - 27 с. - Текст : непосредственный.Бордюжа О.Л. Диагностический контроль качества и надежности кремниевых биполярных интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / О. Л. Бордюжа, 1999. - 17 с. - Текст : непосредственный.Столяренко Ю.А. Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. А. Столяренко, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный.Чистякова С.В. Разработка методов аттестации конструкции ИС по надежностным критериям : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / С. В. Чистякова, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный.Аникин А.В. Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14 / А. В. Аникин, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Шишкина Н.А. Методы контроля содержания паров воды в подкорпусном объеме интегральных схем : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Н. А. Шишкина, 2007. - 15 с. - Текст : непосредственный.Преженцев М.Д. Разработка и внедрение в условиях массового производства методики отбраковки потенциально-ненадежных полупроводниковых приборов и интегральных схем, основанной на использовании коронного разряда : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / М. Д. Преженцев, 1995. - 13 с. - Текст : непосредственный.Барсов В.С. Оптимизация методов контроля основных параметров комплементарных МОП интегральных схем в процессе производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. С. Барсов, 2001. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽