Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Papers from the 26th conference on the physics and chemistry of semiconductor interfaces, 17-21 Jan.1999, San Diego(Ca) / Conference on the physics and chemistry of semiconductor interfaces (26th ; 1999 ; San Diego(Ca)) , 1999. - 1309-1895 p. p. - Текст : непосредственный.Microelectronics and nanometer structures: processing,measurement, and phenomena : материалы временных коллективов / Ed. G. E. McGuire, 1998. - 482 p. - Текст : непосредственный.
Papers from the 17th North American conference on molecular beam epitaxy, 4-7 Oct., 1998 / North American conference on molecular beam epitaxy (17th ; 1998 ; Pennsylvania) , 1999. - A20,905-1308 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the 11th International vacuum microelectronics conference. Papers from the fourth International plasma-based ion implantation workshop / International vacuum microelectronics conference (11 ; 1999 ; New York) , 1999. - A18,259-904,A25 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International vacuum microelectronics conference ,31 July-3 Aug.1995,Portland (Or) and Papers from the 15th North American conference on molecular beam epitaxy,17-20 Sept.1995,College Park(Md) / IVMC'95, 1996. - 1577-2398 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the fifth International workshop on the measurement, characterization, and modeling of ultra-shallow doping profiles in semiconductors / International workshop on the measurement, characterization, and modeling of ultra-shallow doping profiles in semiconductors (5 ; [1999] ; S.l.) , 2000. - A15,606 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the 39th International conference on electron,ion and photon beam technology and nanofabrication / International conference on electron, ion, and photon beam technology and nanofabrication (39; 1995; S.l.), 1995. - A22,2153-3235 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the 14th international vacuum microelectronics conference, 12-16 Aug., 2001, Davis(Ca) / IVMC-2001, 2003. - A18,632 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from ninth international vacuum microelectronics conference : 7-12 July 1996,St.Petersburg / International vacuum microelectronics conference (9th ; 1996 ; St.Petersburg) , 1997. - 181-541 p. p. - Текст : непосредственный.Microelectronics and nanometer structures:Processing,measurement,and phenomena : Papers from the 24th annu.conf.on the physics and chemistry..and 4th intern.conf.on nanometer-scale science and technology ,New York,1997, 1997. - 763-1593 A24 p. A24 p. - Текст : непосредственный.Papers from the 41st international conference on electron,ion,and photon beam technology and nanofabrication,27-30 May 1997,Dona Point(Ca) / International conference on electron, ion, and photon beam technology and nanofabrication (41st; 1997; Dona Point,Ca), 1997. - 1853-3075 p. p. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. 1 / С. А. Михнов, 1990. - 48 с. - Текст : непосредственный.Михнов С.А. Особенности спектроскопии необлученных и гамма-облученных щелочно-галоидных кристаллов. Ч.2 / С. А. Михнов, 1990. - 34 с. - Текст : непосредственный.Яшков Д.А. Исследование методов обработки интерферограмм фурье-спектрометра для повышения точности спектрометрической информации : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Д. А. Яшков, 1998. - 21 с. - Текст : непосредственный.Летохов В.С. Лазерная спектроскопия колебательно-возбужденных молекул / В. С. Летохов, В. С. Летохов, Е. А. Рябов, А. А. Макаров, 1990. - 278 c. - Текст : непосредственный.Понуровский Я.Я. Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии : специальность 01.04.21 "Лазерная физика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Я. Я. Понуровский, 2000. - 22 с. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Stenzel O. The physics of thin film optical spectra / O. Stenzel, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Neutron and x-ray spectroscopy / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineTime-resolved spectroscopy in complex liquids / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-lineTorok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Мадвалиев Умархон.Разработка новых методов фотоакустической спектроскопии конденсированных сред : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Мадвалиев Умархон, 2007. - 44 с. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Дацко В.С. Фильтрация спектрометрических сигналов с помощью преобразования Фурье / В. С. Дацко, 1993. - 13 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Проблемы спектроскопии и спектрометрии : вуз.-акад. период. сб. науч. тр. / Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина. Вып. 35, 2016. - 168 с. - Текст : непосредственный.Митюрич Г.С. Фотоакустическая спектроскопия гиротропных сред : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. С. Митюрич, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный.Денисов И.П. Спектральные измерения : выставочные материалы / И. П. Денисов, 2010. - 82 с. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыPapers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽