• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Система контроля качества изготовления полупроводниковых микрополосковых детекторов в ГНЦ ИФВЭ / А. П. Воробьев [и др.]. - Протвино : ИФВЭ, 2013. - 14 с. : ил. - (Препринт / Институт физики высоких энергий (Серпухов) ; ИФВЭ 2013-24). - Библиогр.: с. 14 (5 назв.). - 80 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    29.15.39539.1.074.5-047.84(04)

    Рубрики:
    Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые -- Производство

    Доп. точки доступа:
    Воробьев, А.П.
    Головня, С.Н.
    Горохов, С.А.
    Лобанов, И.С.
    Лобанова, Е.В.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/7868/ИФВЭ 2013-24)

    Шифр в сводном ЭК: c5c1e36dbb8259d9d9942449a0364e98



    Заказ фрагмента документа ₽