Полное описание
Антоненко, К. И.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.3.049.76:658.562(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР02-сф242)
Шифр в сводном ЭК: e532ebc6e32644fcb6c7dc41eef8fa15
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Елшин А.С. Фундаментальные основы технологии фемтосекундной лазерной кристаллизации сегнетоэлектрических микроструктур для устройств микро- и оптоэлектроники и их нелинейно-оптическая диагностика : специальность 05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / А. С. Елшин, 2018. - 25 с. - Текст : непосредственный. Мишина Е.Д. Нелинейно-оптическая диагностика материалов микроэлектроники : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 05.27.01 / Е. Д. Мишина, 2004. - 31 с. - Текст : непосредственный. Еремин О.Ю. Автоматизированная система контроля паяных соединений на основе модели нейронной сети адаптивно-резонансной теории : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.12 / О. Ю. Еремин, 2012. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карпов А.Г. Информационно-экспертная система для комплексной диагностики твердотельных нано- и микроструктур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.01 / А. Г. Карпов, 2007. - 30 с. - Текст : непосредственный. Гамарц Е.М. Контроль информативных параметров полупроводниковых пластин и структур в микроэлектронике оптическими методами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / Е. М. Гамарц, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный. Федоров П.А. Разработка алгоритмов и методики 3D-рендеринга в автоматизированных системах контроля изделий микроэлектроники : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / П. А. Федоров, 2016. - 25 с. - Текст : непосредственный. Минкевич А.А. Новые методы теоретического анализа спектров рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.02 / А.А. Минкевич, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный. Баранов А.М. Основы теории непрерывного технологического контроля параметров нанокомпозитных структур в технологии ионно-плазменных процессов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. М. Баранов, 2003. - 34 с. - Текст : непосредственный. Карташов Д.А. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / Д. А. Карташов, 2014. - 26 с. - Текст : непосредственный. Манакова А.Ю. Измерение низкой альфа-активности материалов микроэлектроники: методика и оборудование : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.01 / А. Ю. Манакова, 2009. - 26 с. - Текст : непосредственный. Антоненко К.И. Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.06 / К. И. Антоненко, 2000. - 35 с. - Текст : непосредственный. Чернышев Н.И. Исследование и разработка методов и средств измерений параметров прецизионных микроэлектронных изделий : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.05 / Н. И. Чернышев, 1990. - 19 с. - Текст : непосредственный. Голубятников И.В. Автоматизированная система обработки графической информации, получаемой при оценке качества изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.01 / И. В. Голубятников, 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный. Петров А.Ю. Оптимизация планов контроля при статистическом управлении технологическими процессами резистивных структур узлов приборов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14 / А. Ю. Петров, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный. Руденко К.В. Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 05.27.01 / К. В. Руденко, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Новоселова Е.Г. Исследование поверхностных слоев методом рентгеновской рефлектометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.07 / Е. Г. Новоселова, 2002. - 19 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
