• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Circuit Design for Reliability / ed. R. Reis [et al.] ; Ed. R. Reis. - New York, NY : Springer, 2015. - on-line. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-4078-9#editorsandaffiliations. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4614-4078-9. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14-047.56

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ -- ПРОЕКТИРОВАНИЕ
    Доп. точки доступа:
    Reis, R.\ed.\

    https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-4078-9#editorsandaffiliations


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-608193)

    Шифр в сводном ЭК: cf489a5d3a1d3bdf07e23cc4372065b6



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания