Полное описание
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Великий Новгород : ИПЦ Новгор. гос. ун-та им. Ярослава Мудрого, 2006 (Великий Новгород). - 306 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 130 экз. - ISBN 5-89896-300-6. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.19.19 548.7(063) 29.35.43 537.533.35(063)
Рубрики: Структурный анализ -- Съезды и конференции
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа: Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-06/38330)
Шифр в сводном ЭК: 380e6640c11be8cde61723d8d04e4183
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе, 2007. - 172 с. - Текст : непосредственный. Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2006. - 306 с. - Текст : непосредственный. Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос. ун-т им. Я. Мудрого, 2004. - 144 с. - Текст : непосредственный. Физика и техника полупроводников / Российская академия наук, Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Журнал выходит с 1967г. - Текст : непосредственный. Солнечный цикл : сборник / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1993. - 198 c. - Текст : непосредственный. Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 3, 1995. - 57 с. - Текст : непосредственный. Аморфные и микрокристаллические полупроводники : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1998. - 165 с. - Текст : непосредственный. Магнитные поля Солнца и гелиосейсмология : сборник научных трудов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1994. - 188 c. - Текст : непосредственный. Термоэлектрики и их применения : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2004. - 474 с. - Текст : непосредственный. Международная зимняя школа по физике полупроводников. 2015 : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2015. - 61, [3] с. - Текст : непосредственный. Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 2, 1992. - 51 с. - Текст : непосредственный. Голографические оптические элементы и системы : сборник / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1994. - 134 c. - Текст : непосредственный. Международная зимняя школа по физике полупроводников. 2015 : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2015. - 61 с. - Текст : непосредственный. Термоэлектрики и их применение : материалы временных коллективов / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2013. - 588 с. - Текст : непосредственный. Детонационные наноалмазы. Технология, структура, свойства и применения / А. Е. Алексенский, М. В. Байдакова, И. И. Власов [и др.], 2016. - 381 с. - Текст : непосредственный. Амусья М.Я. АТОМ-М. Алгоритмы и программы для исследования атомных и молекулярных процессов / М. Я. Амусья, С. К. Семенов, Л. В. Чернышева, 2017. - 550 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный. Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный. Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный. Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный. Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный. Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : П Всерос.семинар с участием зарубеж.ученых,Казань,5-7 апр.1995 г.Материалы семинара / Российский фонд фундаментальных исслед. (Москва), 1995. - 142 c. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г.: тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) , 2011. - 279 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
