Полное описание
Zschornack, G. ISBN 3-342-00308-1. - Текст : непосредственный.
Рубрики: Рентгеноспектральный анализ
Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/24660)
Шифр в сводном ЭК: 264aa59997f12968b79a322f12b0a966
Гольц Л.Г. Вольтамперометрическое определение рения в минеральном и техногенном сырье : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Л. Г. Гольц, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный. Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный. Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный. Кирющенков Е.Н. Каталитические и сорбционно-каталитические методы определения металлов с использованием реакции окисления 3,3',5,5'-тетраметилбензидина периодатом : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Е. Н. Кирющенков, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный. Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный. Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный. Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный. Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный. Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный. Cyganski A. Metody spektroskopowe w chemii analitycznej / A. Cyganski, 1993. - 378 s. - Текст : непосредственный. Сильверстейн Р. Спектрометрическая идентификация органических соединений / Р. Сильверстейн, Ф. Вебстер, Д. Кимл, 2012. - 557 с. - Текст : непосредственный. Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный. Нехаевский С.Ю. Экстракция хлоридов кадмия и цинка три-н-бутилфосфатом : специальность 05.17.02 "Технология редких, рассеянных и радиоактивных элементов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Нехаевский, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный. Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллов-анализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2P-элементов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / А. В. Окотруб, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный. Bender C.J. Computational and instrumental methods in EPR / C. J. Bender, L. J. Berliner, 2007 r=on-line Martin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-line Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный. Твердофазная колориметрия / С. В. Качин, О. Н. Кононова, О. П. Калякина, 1997. - 101 с. - Текст : непосредственный. Гусев А.Я. Времяпролетный масс-спектрометр с увеличенной эффективной областью собирания ионов / А. Я. Гусев, В. А. Кочнев, Г. Г. Манагадзе, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный. Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Шевченко Л.В. Two-flux Monte-Karlo approach to electron diffusion in solids / Л.В.Шевченко,Б.Н.Юрченко, 1990. - 13 p. - Текст : непосредственный. Meisel A. X-ray Spectra and chemical binding / A.Meisel,G.Leonhardt,R.Szargan;Transl. from German by E. K@:allne, 1989. - VIII, 458 p. 458 p. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 32 : Proc.of the 37th annu., Denver conf.on applications of X-ray analysis, Steamboat Springs(Co), 1988. - 681 p. - Текст : непосредственный. Zschornack G. Atomdaten fur die Rontgenspektralanalyse / G.Zschornack, 1989. - 608 S. - Текст : непосредственный. Плюто И.В. Применение метода РФС для анализа состава поверхности нанесенных систем : Препринт / И. В. Плюто, А. П. Шпак, С. В. Миловзоров, 1991. - 9 с. - Текст : непосредственный. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской, 2013. - 582 с. - Текст : непосредственный. Соколов Н.А. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / Н.А.Соколов, 1990. - 41 c. - Текст : непосредственный. Рид С.Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др., 2008. - 229 с. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 33 : Proceedings of the 38th annual conference on applications of X-ray analysis held July 31-Aug.4,1989 Denver(Co), 1990. - XX,704 p. p. - Текст : непосредственный. Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова, 2007. - 671 с. - Текст : непосредственный. Борходоев В.Я. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / В.Я.Борходоев, 1996. - 89 с. - Текст : непосредственный. Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный. Avaldi L. Thick target Ka X-ray yields for 66 elements from Na to Pb induced by 1-100 MeV protons / L.Avaldi,S.Bassi, 1990. - 180 kol. - Текст : непосредственный. Руководство для пользователя системы EX-6000 / ВЦП. - 93 с. - Текст : непосредственный. Advances in X-ray analysis. Vol. 35A : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - XXX,691 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный. Алексеев А.В. Развитие метода Дебая-Шеррера для характеризации кристаллических фаз, представленных в микроколичествах / А. В. Алексеев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный. Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный. Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России : монография / Э. П. Домашевская, А. С. Шулаков, В. Л. Сухоруков [и др.], 2015. - 329 с. - Текст : непосредственный. Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Определение свойств веществ и материалов по зависимостям спектр-свойства и цвет-свойства : материалы временных коллективов / "Нефтегазтехнология", науч.-произв. об-ние (Уфа), 1998. - 50 с. - Текст : непосредственный. EXAFS and near edge structure III : материалы временных коллективов / Ed. K. O. Hodgson, 1984. - XV,533 p. p. - Текст : непосредственный. Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный. Дубинин П.С. Разработка отраслевых стандартных образцов химического и фазового состава электролита алюминиевых электролизеров для калибровки рентгеновских измерительных приборов : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / П. С. Дубинин, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный. Пахаруков Ю.В. Рентгеновские методы определения фазового состава в конденсированной среде : выставочные материалы / Ю. В. Пахаруков, 2015. - 47 с. - Текст : непосредственный. Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный. Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный. Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
