• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Шерстюк, Н. Э. Нелинейно-оптическая диагностика сегнетоэлектрических тонких пленок и наноструктур для микроэлектроники : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / Н. Э. Шерстюк. - М., 2005. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22(16 назв.). - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.09.33621.315.612-416(043)
    29.19.35537.226.4:539.216.2(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар06-5196)

    Шифр в сводном ЭК: 53d70fb08443f7e5ce8e2faa22625895



    Заказ фрагмента документа ₽