• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ермаков, В. А. Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / В. А. Ермаков. - 2011. - 19 с. : ил. - Библиогр.: с. 18-19 . - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    29.33.35535.375.54(043)

    Кл.слова (ненормированные): МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОРАЗМЕРНЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- СПЕКТРЫ
    Аннотация: Исследование термоиндуцированных структурно-химических изменений в проводящих пленках NiSi и пьезоэлектрических пленках нанометровой толщины, выяснение закономерностей образования наноразмерных аморфных и кристаллических неоднородностей в цинковоалюмосиликатных наностеклокерамиках, легированных ионами кобальта, при вторичной термообработке. Определение структурных особенностей многослойных частиц нанографита и их изменений при отжиге различными методами.
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар11-6604)

    Шифр в сводном ЭК: 082f8cb5beed0ec6565366421db87770



    Заказ фрагмента документа ₽