Полное описание
Hohenstein, M.
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35(043)
Рубрики: Микроскопия электронная
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/17192)
Шифр в сводном ЭК: b018f8fcf28a065b43b258dadd537485
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Купреенко С.Ю. Электронная спектроскопия материалов и микроструктур в сканирующем электронном микроскопе : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 / С. Ю. Купреенко, 2017. - 22 с. - Текст : непосредственный. Смольянинов Н.А. Моделирование микроскопических изображений на основе анализа и модификации спектральных характеристик : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.18 / Н. А. Смольянинов, 2013. - 19 с. - Текст : непосредственный. Иванников П.В. Новые методы исследования люминесцирующих материалов в растровой электронной микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.04, 01.04.01 / П. В. Иванников, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный. Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный. Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный. Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Арсеев П.И. Эффекты электрон-электронного и электрон-фононного взаимодействия в туннельных системах : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.02 / П. И. Арсеев, 2007. - 40 с. - Текст : непосредственный. Шведченко Д.О. Разработка алгоритмов морфологического анализа наночастиц в электронной микроскопии и установление механизма образования наночастиц в растворах полимеров : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Д. О. Шведченко, 2018. - 23 с. - Текст : непосредственный. Швамм К.Л. Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / К. Л. Швамм, 2007. - 22 с. - Текст : непосредственный. Ruijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный. Грибков Б.А. Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости и магнитных наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Б. А. Грибков, 2006. - 18 с. - Текст : непосредственный. Залыгин А.В. Система зондово-оптической 3D корреляционной микроскопии и её применение в исследовании свойств наноматериалов : специальность: 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики": автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / А. В. Залыгин, 2019. - 23 с. - Текст : непосредственный. Лапшин Р.В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Р. В. Лапшин, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный. Роддатис В.В. Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / В. В. Роддатис, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный. Лукашенко, Станислав Юрьевич. Особенности использования СЗМ-зондов в нанодиагностике : специальность 1.3.2 "Приборы и методы экспериментальной физики": автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Лукашенко Станислав Юрьевич, 2024. - 22 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
