• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Окрепилов, В. В. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов. - СПб. : Наука, 2008 (СПб.). - 263 с. : ил. - 200 экз. - ISBN 978-5-02-025339-1. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    81.13.30620.3:658.516
    90.03620.3:006.91

    Рубрики:
    Нанотехнологии -- Стандартизация
    Нанотехнологии -- Метрологическое обеспечение

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-08/57191)

    Шифр в сводном ЭК: bb3ce581aab3881836ac0b89800eee5a



    Заказ фрагмента документа ₽