Приложение
для AndroidПолное описание
Суворов, Э. В. Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов / Э.В.Суворов. - Черноголовка : [б. и.], 1999. - 231 с. : ил. - 200 экз. - ISBN 5-201-10400-2. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Подмосков. фил. МГУ им.М.В.Ломоносова. Библиогр.:с.227-228(33назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.19 | 548.7 |
Рубрики:
Структурный анализ
Кл.слова (ненормированные): СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-99/52986)
Шифр в сводном ЭК: d73679e882b6f5faceee9c3572b75cab
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineMathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный.Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный.Recalo M.P. Complete experiment for dp and He, d backward elastic scattering / M. P. Recalo, Н. М. Пискунов, И. М. Ситник, 1997. - 17 p. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный.Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный.Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный.Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : специальность 01.07.03 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСтруктурные исследования кристаллов : сборник / Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (Москва), 1996. - 491 c. - Текст : непосредственный.Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный.Илюшин А.С. Теоретико-групповые методы в дифракционных исследованиях структуры и свойств твердых тел / А. С. Илюшин, Е. Н. Овчинникова, 1996. - 120 с. - Текст : непосредственный.Борисов С.В. Алгоритмы и практика кристаллографического анализа атомных структур / С. В. Борисов, С. А. Магарилл, Н. В. Первухина, 2012. - 112 с. - Текст : непосредственный.
Liss K.-D. "Strukturelle Charakterisierung und Optimierung der Beugungseigenschaften von Si1-xGex Gradientenkristallen,die aus der Gasphase gezogen wurden" : Diss. / K.-D.Liss, 1994. - 121 S. - Текст : непосредственный.Светло-темная структура интерференционных линий Косселя и анализ кристаллической структуры /II/ / ТПП УССР. - 37 c. - Текст : непосредственный.Dachs H. Beugungsmethoden zum Studium der kondensierten Materie : сборник научных трудов / H.Dachs, 1991. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Суворов Э.В. Физические основы современных методов исследования реальной структуры кристаллов / Э.В.Суворов, 1999. - 231 с. - Текст : непосредственный.Цыбуля С.В. Введение в структурный анализ нанокристаллов : Учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова, 2009. - 87 с. - Текст : непосредственный.Раменская М.Е. Взаимодействия кристаллов со средой: структурно-геометрический анализ / М. Е. Раменская; науч. ред. Ю. Л. Войтеховский, 2008. - 237 с. - Текст : непосредственный.Игнатович В.К. Width of the Darwin table for forbidden reflexes / В. К. Игнатович, D. ProtopopescuMasahiko Utsuro, 1996. - 4 p. - Текст : непосредственный.Малиновский Т.И. Определение атомной структуры кристаллов / Т. И. Малиновский, 1973. - 116 с. - Текст : непосредственный.Thiery D. Beitrage zur Strukturbestimmung bei tiefen Temperaturen am Beispiel der ferroelektrischen Phase TlGaSe2 und der supraleitenden Phasen MBa2Cu3 O7-б(M=Y, Gd,Er), der Clusterverbindungen (Pph4) 2/B6X6/ (CH3CN)2(X=Cl,Br) und B4Cl4 sowie am H-Bruckensystem E -Zn(OH)2 : Diss. / D.Thiery, 1992. - 158 S. - Текст : непосредственный.Bereich "Strukturforschung". Statusbericht 1997-2000, 2001. - IV,254 S. S. - Текст : непосредственный.Wright A.G. Phase dependence of kikuchi patterns. 2, 1995. - 5 p. - Текст : непосредственный.Герасимов В.П. Основы физических методов анализа и исследования строения вещества : учебное пособие / В. П. Герасимов, Р. Н. Ростовцев, О. А. Герасимова, 2017. - 206 с. - Текст : непосредственный.Васильев А.Д. Исследование кристаллических структур : Учеб. пособие / А.Д.Васильев, 1995. - 72 с. - Текст : непосредственный.Cervellino A. The algebraic approach to solving the phase problem for crystals with point-like atoms / A.Cervellino,S.Ciccariello, 1996. - 59 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Baryshevsky V.G. Parametric x-ray radiation in crystals / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineMathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Структурные исследования кристаллов : сборник / Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (Москва), 1996. - 491 c. - Текст : непосредственный.Gamma-ray Diffractometer at the ET-RR-1 Reactor for Material Science Research / A. I. Kurbakov, R. M. Maayouf, A. E. Sokolov, 1994. - 22 p. - Текст : непосредственный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Рабаданов М.Х. Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Х. Рабаданов, 2004. - 42 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный.Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный.Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный.Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный.Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Рентгеноструктурные исследования модулированных фаз в монокристаллах К (NbO)[Si O],BaAl Si O ,H O, Ba Ti O и Na TiP O : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Н. Б. Болотина, 1995. - 25 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽