Полное описание
Dacca, A.
Рубрики: Электронная спектроскопия
Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа: Gemme, G.
Parodi, R.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/5815/TC-97/14)
Шифр в сводном ЭК: ace9abbff0ccaec79d15a6608e914ec9
Stern-Gerlach interaction between a traveling particle and a time varying magnetic field / M. Conte, M. Ferro, G. Gemme, W. W. MacKay, 2000. - 14 p. - Текст : непосредственный. RF control and detection system for PACO the parametric converter detector / P. Bernard, G. Gemme, R. Parodi, E. Picasso, 2000. - 12 p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Proposal for the development of a test coil for astromag / P.Fabbricatore,G.Gemme,R.Musenich,R.Parodi, 1992. - 19 p. - Текст : непосредственный. Dacca A. UHV transportable container based on a NEG pump / A.Dacca,A.Pozzo, 1999. - 22 p. - Текст : непосредственный. RF resistence measurements of high Tc superconducting Y-Ba-Cu-0 samples / P.Fabbricatore,R.Musenich,R.Parodi,R.Scianca, 1989. - 13 p. - Текст : непосредственный. Temperature influence on the oxidation of niobium for superconducting RF cavities / A.Dacca,G.Gemme,L.Mattera,R.Parodi, 1997. - 21 p. - Текст : непосредственный. Dacca A. Tecniche di spettroscopia elettronica per l'analisi di superfici / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1997. - 15 p. - Текст : непосредственный. detection of gravitational waves by coupled microwave cavities : Theoretical aspects / P.Bernard,G.Gemme,R.Parodi,E.Picasso, 1999. - 18 p. - Текст : непосредственный. A proposal for measurements of the limiting electronic and magnetic fields of superconducting niobium cavities and of niobium based compounds / G.Gemme,R.Parodi,G.Bienvenu,T.Garvey, 1996. - 13 p. - Текст : непосредственный. Fernandes P. design of TE storage cavities for a RF pulse compressor system / P.Fernandes,R.Parodi,C.Salvo, 1990. - 17 p. - Текст : непосредственный. Fernandes P. OSCAR2D user's guide / P.Fernandes,R.Parodi, 1990. - 63 p. - Текст : непосредственный. Fabbricatore P. Calculation of the effective critical field of the cable for LHC dipole magnrts / P.Fabbricatore,R.Musenich,R.Parodi, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный. XPS and AES analysis of ozonized ultrapure water treatment of NB surface for SCRF cavities / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi,K.Asano, 1998. - 21 p. - Текст : непосредственный. Dacca A. Analisi AES di wafer costituenti il rivelatore a pixel dell'esperimento ATLAS / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1998. - 5 p. - Текст : непосредственный. Fabbricatore P. Problemi connessi alle misure di corrente critica di conduttori ad alta corrente (attivita svolta nell'ambito del progetto speciale superconduttivita / P.Fabbricatore,R.Musenich,R.Parodi, 1992. - 48 p. - Текст : непосредственный. Status report of the INFN R & D activities for Al-stabilised conductors of large magnets for LHC detectors / R.De Lorenzi,P.Fabbricatore,S.Farinon и др., 1994. - 32 p. - Текст : непосредственный. Coupled microwave cavities for the detection of small harmonic displacements / Ph.Bernard,G.Gemme,R.Parodi,E.Picasso, 1998. - 24 p. - Текст : непосредственный. Properties of ruthenium oxide resistors as sensitive elements of composite bolometers / R. Dambra, G. Gallinaro, F. Gatti, S. Vitale, 1990. - 12 p. - Текст : непосредственный. Proposed architecture of a flexible small-scale parallel system for the control of a detector array / S. Aiello, A. Anzalone, M. Bartolucci, G. Cardella, 1998. - 8 p. - Текст : непосредственный. Limits on dark matter WIMPs using upward-going muons in the MACRO detector / M. Ambrosio, R. Antolini, C. Aramo, G. Auriemma, 1999. - 19 p. - Текст : непосредственный. Bilei G.M. A PC based silicon data acquisition system / G. M. Bilei, B. Checcucci, J. Ding, 1994. - 11 p. - Текст : непосредственный. silicon pad shower maximum detector for a "shashlik" calorimeter / S. J. Alvsvaag, O. A. Maeland, A. Klovning, A. C. Benvenuti, 1995. - 6 p. - Текст : непосредственный. Белоглазов А. High brightness electron beams induced by excimer lasers on metal targets / А. Белоглазов, M. Martino, V. Nassini, 1995. - 20 p. - Текст : непосредственный. Search for WIMP annual modulation signature: results from DAMA/NaI-3 and DAMA/NaI-4 and the global combined analysis / R. Bernabei, P. Belli, R. Cerulli, F. Montecchia, 2000. - 14 p. - Текст : непосредственный. Search for Ey > 5.10 13 eV y-ray transients through the BAKSAN and EAS-TOP correlated data / M. Aglietta, B. Alessandro, В. В. Алексеенко, Ю. М. Андреев, 2000. - 21 p. - Текст : непосредственный. Farinon S. Detailed field distribution in CMS winding / S. Farinon, P. Fabbricatore, R. Musenich, 2000. - 10 p. - Текст : непосредственный. Farinon S. Stress on cold mass due to the supporting system of the CMS coil in the vacuum tank / S. Farinon, P. Fabbricatore, 2000. - 16 p. - Текст : непосредственный. Rached M.Z. Localized Superluminal solutions to Maxwell equations propagating along a normal-size waveguide / M. Z. Rached, E. Recami, F. Fontana, 2000. - 15 p. - Текст : непосредственный. Olkhovsky V.S. Tunneling through two successive barriers and the Hartman (superluminal) effects / V. S. Olkhovsky, E. Recami, G. Salesi, 2000. - 8 p. - Текст : непосредственный. Barbero A.P.L. On the propagation speed of evanescent modes / A. P.L. Barbero, H. E. Hernandez-Figueroa, E. Recami, 2000. - 21 p. - Текст : непосредственный. Recami E. Special Relativity and Superluminal motions: a discussion of some recent experiments / E. Recami, F. Fontana, R. Garavaglia, 2000. - 26 p. - Текст : непосредственный. Bosotti A. On line monitoring of the TTF cryostats cold mass with wire position monitors / A. Bosotti, C. Pagani, G. Varisco, 2000. - 26 p. - Текст : непосредственный. Stern-Gerlach interaction between a traveling particle and a time varying magnetic field / M. Conte, M. Ferro, G. Gemme, W. W. MacKay, 2000. - 14 p. - Текст : непосредственный. Piemonte C. Influence of the leakage current on the performance of large area silicon drift detectors / C. Piemonte, A. Rashevsky, D. Nouais, 2000. - 18 p. - Текст : непосредственный. Production of heavy ion beams by operating Serse in DC mode and afterglow mode / S. Gammino, G. Ciavola, L. Celona, A. Girard, 2000. - 7 p. - Текст : непосредственный. Volpini G. model of the current distribution inside the resistive joints of the atlas toroids / G. Volpini, 2000. - 33 p. - Текст : непосредственный. RF control and detection system for PACO the parametric converter detector / P. Bernard, G. Gemme, R. Parodi, E. Picasso, 2000. - 12 p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Гольц Л.Г. Вольтамперометрическое определение рения в минеральном и техногенном сырье : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Л. Г. Гольц, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный. Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный. Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный. Кирющенков Е.Н. Каталитические и сорбционно-каталитические методы определения металлов с использованием реакции окисления 3,3',5,5'-тетраметилбензидина периодатом : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени канд. хим. наук / Е. Н. Кирющенков, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный. Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный. Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный. Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный. Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный. Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный. Cyganski A. Metody spektroskopowe w chemii analitycznej / A. Cyganski, 1993. - 378 s. - Текст : непосредственный. Сильверстейн Р. Спектрометрическая идентификация органических соединений / Р. Сильверстейн, Ф. Вебстер, Д. Кимл, 2012. - 557 с. - Текст : непосредственный. Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный. Нехаевский С.Ю. Экстракция хлоридов кадмия и цинка три-н-бутилфосфатом : специальность 05.17.02 "Технология редких, рассеянных и радиоактивных элементов" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Нехаевский, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный. Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллов-анализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2P-элементов : специальность 02.00.04 "Физическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / А. В. Окотруб, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный. Bender C.J. Computational and instrumental methods in EPR / C. J. Bender, L. J. Berliner, 2007 r=on-line Martin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-line Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный. Твердофазная колориметрия / С. В. Качин, О. Н. Кононова, О. П. Калякина, 1997. - 101 с. - Текст : непосредственный. Гусев А.Я. Времяпролетный масс-спектрометр с увеличенной эффективной областью собирания ионов / А. Я. Гусев, В. А. Кочнев, Г. Г. Манагадзе, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Доломатов, М. Ю. Электронная феноменологическая спектроскопия и ее применение в исследовании сложных веществ в технологии, химии, нанофизике и медицине : монография. Ч. 1 : Электронная феноменологическая спектроскопия в исследовании свойств и структуры молекул и наночастиц, 2019. - 321 с. - Текст : непосредственный. Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок / С.С.Еловиков, 1992. - 94 с. - Текст : непосредственный. Dacca A. Tecniche di spettroscopia elettronica per l'analisi di superfici / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1997. - 15 p. - Текст : непосредственный. Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes. Vol. 123 : Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons , 2002. - XVI,462 p. p. - Текст : непосредственный. Yuan Z.W. Exelfs studies of the atomic fine structure in solids with a convergent beam diffraction coupled eels spectrometer system : Diss / Z.W.Yuan, 1993. - Pag.var. - Текст : непосредственный. Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный. Соколов О.Б. Развитие экспериментальных возможностей метода электронной спектроскопии с использованием магнитного энергоанализа : Учеб. пособие / О.Б.Соколов,В.Л.Кузнецов, 1990. - 56 c. - Текст : непосредственный. Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный. Berakdar J. Electronic correlation mapping : from finite to extended systems / J.Berakdar, 2006. - XIII, 192 p. - Текст : непосредственный. Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный. Бутлеровское наследие : серия / Министерство образования и науки Российской Федерации, Уфимский государственный нефтяной технический университет. Кн. 6 : Электронная феноменологическая спектроскопия и её применение в исследовании сложных молекулярных систем в химии, технологии, физике и медицине : монография / М. Ю. Доломатов, М. М. Доломатова, Г. М. Сидоров [и др.] ; под научной редакцией М. Ю. Доломатова, 2024. - 308 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный. Алексеев А.В. Развитие метода Дебая-Шеррера для характеризации кристаллических фаз, представленных в микроколичествах / А. В. Алексеев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный. Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный. Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России : монография / Э. П. Домашевская, А. С. Шулаков, В. Л. Сухоруков [и др.], 2015. - 329 с. - Текст : непосредственный. Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Определение свойств веществ и материалов по зависимостям спектр-свойства и цвет-свойства : материалы временных коллективов / "Нефтегазтехнология", науч.-произв. об-ние (Уфа), 1998. - 50 с. - Текст : непосредственный. EXAFS and near edge structure III : материалы временных коллективов / Ed. K. O. Hodgson, 1984. - XV,533 p. p. - Текст : непосредственный. Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный. Дубинин П.С. Разработка отраслевых стандартных образцов химического и фазового состава электролита алюминиевых электролизеров для калибровки рентгеновских измерительных приборов : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / П. С. Дубинин, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный. Пахаруков Ю.В. Рентгеновские методы определения фазового состава в конденсированной среде : выставочные материалы / Ю. В. Пахаруков, 2015. - 47 с. - Текст : непосредственный. Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный. Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный. Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
