Полное описание
Акулинин, С. А.
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.3.049.76:658.562 621.31-181.4:658.562
Рубрики: Микроэлектронные приборы -- Технический контроль
Микроэлектромеханические системы -- Технический контроль
Доп. точки доступа: Минаков, С.А.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-11/86737)
Шифр в сводном ЭК: 5410d7aaccdeba77df600575951ec180
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Елшин А.С. Фундаментальные основы технологии фемтосекундной лазерной кристаллизации сегнетоэлектрических микроструктур для устройств микро- и оптоэлектроники и их нелинейно-оптическая диагностика : специальность 05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / А. С. Елшин, 2018. - 25 с. - Текст : непосредственный. Мишина Е.Д. Нелинейно-оптическая диагностика материалов микроэлектроники : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 05.27.01 / Е. Д. Мишина, 2004. - 31 с. - Текст : непосредственный. The SEM metrology of the microrelief elements / Yu.A.Novikov,A.V.Rakov,I.Yu.Stekolin,I.B.Strizhkov, 1995. - 12 p. - Текст : непосредственный. Еремин О.Ю. Автоматизированная система контроля паяных соединений на основе модели нейронной сети адаптивно-резонансной теории : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.12 / О. Ю. Еремин, 2012. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карпов А.Г. Информационно-экспертная система для комплексной диагностики твердотельных нано- и микроструктур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.01 / А. Г. Карпов, 2007. - 30 с. - Текст : непосредственный. Акулинин С.А. Контрольно-измерительные операции в технологии интегрированных модулей : учеб. пособие / С. А. Акулинин, С. А. Минаков, 2011. - 140 с. - Текст : непосредственный. Гамарц Е.М. Контроль информативных параметров полупроводниковых пластин и структур в микроэлектронике оптическими методами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / Е. М. Гамарц, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный. Entwurf eines Systems zur Erfassung und Weiterverarbeitung von Produktinformation bei der Herstellung von Mikrostrukturen / P.Wieland,C.D@:upmeier,H.Eggert,K.P.Scherer, 1995. - IX,148 S. S. - Текст : непосредственный. Федоров П.А. Разработка алгоритмов и методики 3D-рендеринга в автоматизированных системах контроля изделий микроэлектроники : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / П. А. Федоров, 2016. - 25 с. - Текст : непосредственный. Минкевич А.А. Новые методы теоретического анализа спектров рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.02 / А.А. Минкевич, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный. Кейджян Г.А. Основы обеспечения качества микроэлектронной аппаратуры / Г.А.Кейджян, 1991. - 231 c. - Текст : непосредственный. Баранов А.М. Основы теории непрерывного технологического контроля параметров нанокомпозитных структур в технологии ионно-плазменных процессов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. М. Баранов, 2003. - 34 с. - Текст : непосредственный. Карташов Д.А. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / Д. А. Карташов, 2014. - 26 с. - Текст : непосредственный. Манакова А.Ю. Измерение низкой альфа-активности материалов микроэлектроники: методика и оборудование : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.01 / А. Ю. Манакова, 2009. - 26 с. - Текст : непосредственный. Антоненко К.И. Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.06 / К. И. Антоненко, 2000. - 35 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
