Полное описание
> Корт, С. С. Разработка методов и средств поиска уязвимостей при сертификационных испытаниях защищенных вычислительных систем : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.16,05.13.19 / С. С. Корт. - СПб, 1999. - 18 с. : ил. - Текст : непосредственный. Библиогр.:с. 17-18(16 назв.)
ГРНТИ УДК 50.01.37 004.057.2(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР99-2946)>
Шифр в сводном ЭК: 25c999c54c598c932fb5980b10488d9a
Жешке Р. Толковый словарь стандарта языка Си : монография / Р. Жешке, 1994. - 221 c. - Текст : непосредственный. Благодатских В.А. Стандартизация разработки программных средств : монография / В. А. Благодатских, В. А. Волнин, К. Ф. Поскакалов ; ред. О. С. Разумов, 2003. - 284 с. - Текст : непосредственный. ECDL/ICDL 3.0 made simple, 2003. - X, 357 p. - Текст : непосредственный. Годин Э.М. Разработка технологии испытаний и основы сертификации средств информационной и вычислительной техники : учебное пособие / Э. М. Годин, В. А. Соколов, 2008. - 99 с. - Текст : непосредственный. Егоров А.А. Численная сертификация алгоритмов и программ : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук / А. А. Егоров, 1995. - 8 . - Текст : непосредственный. Щербо В.К. Функциональные стандарты в открытых системах : Справ.пособие. Ч. 1 : Концепция открытых систем, 1997. - 124 с. - Текст : непосредственный. Кияев В.И. Стандартизация, метрология и качество разработки программного обеспечения и информационных технологий / В. И. Кияев, 2016. - 475 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Титов Д.В. Основы метрологии, стандартизации и сертификации в области вычислительной техники и систем управления : учебное пособие / Д. В. Титов, В. Е. Эрастов, 2017. - 198 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽