Полное описание
Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.]; пер. с англ. Е. Б. Махияновой, под ред. А. Н. Ланцева. - М. : Техносфера, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. Предм. указ. : с. 289-294. - 750 экз. - ISBN 978-5-94836-365-3. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.3.049.771.14-048.24
Рубрики: Системы на кристалле -- Тестирование
Доп. точки доступа: Чэнь, М.
Цинь, К.
Ку, Х-М.
Мишра, П.
Ланцев, А.Н.\ред.\
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-14/55824)
Шифр в сводном ЭК: 4cb4eb4ceef516c6730d2f71ede1306d
Бард Д. Архитектура сетей связи на базе программируемых радиосредств / Д. Бард, В. Д. Коварик, 2013. - 461 с. - Текст : непосредственный. Пол С. Распределение цифрового видео по широкополосным, телевизионным, мобильными и конвергентным сетям. Тенденции, проблемы и решения / С. Пол, 2012. - 439 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Голдсмит А. Беспроводные коммуникации / А. Голдсмит, 2011. - 903 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Эйкхофф Й. Бортовые компьютеры, программное обеспечение и полетные операции. Введение / Й. Эйкхофф ; Ред. А. А. Адамов, 2014. - 343 с. - Текст : непосредственный. Биард Р.У. Малые беспилотные летательные аппараты: теория и практика / Р. У. Биард, Т. У. МакЛэйн ; Ред. Г. В. Анцев ; Пер. А. И. Демьяников, 2015. - 311 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Оппенгейм А. Цифровая обработка сигналов / А. Оппенгейм, Р. Шафер: пер. с англ. под ред. С. Ф. Боева, 2012. - 1046 с. (Введено оглавление). - Текст : электронный. Конвергенция мобильных и стационарных сетей следующего поколения / Д. Ахмед [и др.]; под ред. К. Иньевски; пер. с англ. под ред. А. Е. Давыдова, 2012. - 805 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.]; пер. с англ. Е. Б. Махияновой, под ред. А. Н. Ланцева, 2014. - 294 с. - Текст : непосредственный. Гилмор А.С. Лампы с бегущей волной / А. С. Гилмор; пер. с англ. А. Г. Кудряшова; под ред. Н. А. Бушуева, 2013. - 615 с. - Текст : электронный. Технология выращивания кристаллов нитрида галлия / ., 2011. - 383 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Дансмор Д.П. Настольная книга инженера. Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей / Д. П. Дансмор; пер. с англ. и науч. ред. Е. Ю. Харитонова [и др.], 2018. - 735 с. - Текст : непосредственный. Хансен Р.С. Фазированные антенные решетки / Р. С. Хансен; пер. с англ. под ред. А. И. Синани, 2012. - 558 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Методы спутникового и наземного позиционирования. Перспективы развития технологий обработки сигналов / под ред. Д. Дардари и др.; пер. с англ. Е. Б. Махияновой; под ред. В. А. Турилова, 2012. - 527 с. - Текст : непосредственный. Интеллектуальные сенсорные системы / под ред. Д. К.М. Мейджера; пер. с англ. Ю. А. Платонова, В. А. Шубарева, 2011. - 461 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Boule M. Generating hardware assertion checkers / M. Boule, Z. Zilic, 2008 r=on-line. - Текст : электронный. DasGupta P. A roadmap for formal property verification / P. DasGupta, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. System-level validation: high-level modeling and directed test generation techniques / M. Chen [et al.], 2013. - XVII, 247 p. - Текст : непосредственный. Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.]; пер. с англ. Е. Б. Махияновой, под ред. А. Н. Ланцева, 2014. - 294 с. - Текст : непосредственный. Bergeron J. Writing testbenches using system verilog / J. Bergeron, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Sachdev M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Liu X. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits / X. Liu, Q. Xu, 2014 r=on-line. - Текст : электронный. Bertacco V. Scalable hardware verification with symbolic simulation / V. Bertacco, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Verification methodology manual for systemverilog / J. Bergeron [et al.], 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Mintz M. Hardware verification with C++ : a practitioner's handbook / M. Mintz, R. Ekendahl, 2006 r=on-line. - Текст : электронный. Carter H.B. Metric- driven design verification : an engineer's and executive's guide to first pass success / H. B. Carter, S. Hemmady, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Wiemann A. Standardized functional verification / A. Wiemann, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Mintz M. Hardware verification with systemverilog : an object-oriented framework / M. Mintz, R. Ekendahl, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Spear C. System verilog for verification : a guide to learning the testbench language features / C. Spear, 2008 r=on-line. - Текст : электронный. Алексеев А.А. Исследование и разработка универсальных методов тестирования IP блоков систем на кристалле на базе микропроцессорных ядер : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. А. Алексеев, 2012. - 28 с. - Текст : непосредственный. Bhushan M. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology : монография / by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen., 2011 r=on-line (Введено оглавление). - Текст : электронный. Смирнов, Константин Константинович. Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : специальность 05.13.12 - Системы автоматизации проектирования (в технических системах) (технические науки): автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Смирнов Константин Константинович, 2021. - 16 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
