Полное описание
"Поиск", центр науч.-технической информации (Москва). за 1979-1988 гг. , № 100 : Методы повышения отказоустойчивости КМДП интегральных схем / О.А.Титов. - 1989. - 40 с. : ил. - 120 экз.
ГРНТИ УДК 47.14.23 621.3.049.77.019.3
Рубрики: Интегральные схемы -- Надежность
Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ
Экз-ры полностью 99069cc6affd1d8c70fa44c75d4e0369 Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/47842/за 1979-1988 гг./100)
Шифр в сводном ЭК: 99069cc6affd1d8c70fa44c75d4e0369
Титов О.А. Применение метода среднеквадратической коллокации для обработки РСДБ наблюдений : специальность 01.03.01 "Астрометрия и небесная механика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук / О. А. Титов, 1996. - 12 с. - Текст : непосредственный. Губанов В.С. Внутрисуточные флуктуации тропосферной задержки по данным РСДБ наблюдений / В. С. Губанов, И. Ф. Суркис, О. А. Титов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный. Внутрисуточные флуктуации фазы водородных мазеров Ч1-80 / А.В.Вытнов,В.С.Губанов,И.Ф.Суркис,О.А.Титов, 1997. - 13 с. - Текст : непосредственный. Обзор отечественной и зарубежной литературы. за 1979-1988 гг.№ 100. Методы повышения отказоустойчивости КМДП интегральных схем / О.А.Титов, 1989. - 40 с. - Текст : непосредственный. Титов О.А. Применение среднеквадратической коллокации для обработки РСДБ наблюдений / О.А.Титов, 1996. - 20 с. - Текст : непосредственный. Губанов В.С. Априорные ковариации стохастических параметров РСДБ наблюдений / В. С. Губанов, А. М. Соловьев, О. А. Титов, 1994. - 26 c. - Текст : непосредственный. Титов О.А. Теоретическое исследование электронного захвата в атомах и ионах с приложениями к проблемам физики нейтрино : специальность 01.04.16 - Физика атомного ядра и элементарных частиц: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / О. А. Титов, 2019. - 23 с. - Текст : непосредственный. Губанов В.С. Оценивание стохастических параметров обобщенным методом наименьших квадратов / В.С.Губанов,О.А.Титов, 1994. - 12 c. - Текст : непосредственный. Титов О.А. Движение станции Ny Alesund по результатам наблюдений в 1994-1995 г.г. / О.А.Титов, 1996. - 12 c. - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1997г. № 6. - Текст : непосредственный. Прогнозирование геоэкологического воздействия пожаров на полигонах ТКО Воронежской области / Т. В. Ашихмина, А. А. Головко, А. М. Ткаченко [и др.]. - Текст : непосредственный // Астраханский вестник экологического образования. - Астрахань : Изд-во Нижневолжского экоцентра, 2025. - Т. 24 № 3 Боровиков С.М. Надежность радиоэлектронных устройств / С. М. Боровиков, 1997. - 79 с. - Текст : непосредственный. Торгашев В.А. Система остаточных классов и надежность ЦВМ, 1973. - 118 с. - Текст : непосредственный. Современные методы обеспечения качества и надежности электронных приборов : материалы временных коллективов / Московский Дом науч.-технической пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского, 1990. - 148 c. - Текст : непосредственный. Серых В.И. Обеспечение надежности РЭА в процессе производства / В. И. Серых, П. П. Мищенко, 1995. - 91 с. - Текст : непосредственный. IEEE Transactions Reliability / IEEE. - Журнал. - Текст : непосредственный. Надежность радиоэлектронной аппаратуры : ежегодник, 1990. - 246 с. - Текст : непосредственный. Князев А.Д. Элементы теории надежности радиоэлектронной аппаратуры, 1973. - 115 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 14(1580) : Физико-статистические методы исследования надежности электронных приборов : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1950-1990 гг. / С.Я.Гродзенский, 1990. - 43 с. - Текст : непосредственный. Литвинский И.Е. Обеспечение безотказности микроэлектронной радиоаппаратуры на этапе производства / И. Е. Литвинский, В. А. Прохоренко, А. Н. Смирнов, 1989. - 190 c. - Текст : непосредственный. Ямпурин Н.П. Управление качеством электронных средств : выставочные материалы / Н. П. Ямпурин, Р. В. Свердлов, 2015. - 114 с. - Текст : непосредственный. Тихменев А.Н. Метод имитационного моделирования для проектной оценки показателей безотказности структурно-сложной радиоэлектронной аппаратуры / А. Н. Тихменев, 2013. - 18 с. - Текст : непосредственный. Доценко Н.С. Долговечность элементов радиоэлектронной аппаратуры (влияние влаги), 1973. - 159 с. - Текст : непосредственный. Advances in distributed system reliability / Ed.: S. Rai, D. P. Agrawal, 1992. - IX,333 p. p. - Текст : непосредственный. Мандзий Б.А. Методы и средства повышения эффективности процедур схемотехнического проектирования радиоэлектронных устройств в надежностном аспекте : специальность 05.12.13 "Системы, сети и устройства телекоммуникаций " : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Б. А. Мандзий, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный. Колесников Д.Н. Надежность устройств автоматики и вычислительной техники : выставочные материалы / Д. Н. Колесников, С. П. Некрасов, В. А. Степанов ; Ред. В. К. Захаров, 1974. - 110 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Королев С.Ю. Повышение надежности интегральных схем в процессе серийного производства методом выравнивающей технологии : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. Ю. Королев, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный. Обзор отечественной и зарубежной литературы. за 1979-1988 гг.№ 100. Методы повышения отказоустойчивости КМДП интегральных схем / О.А.Титов, 1989. - 40 с. - Текст : непосредственный. Строгонов А.В. Прогнозирование долговечности кремниевых биполярных интегральных схем по параметрическим отказам : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Строгонов, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный. Горлов М.И. Физические основы надежности интегральных микросхем : Учеб. пособие / М.И.Горлов,С.Ю.Королев, 1995. - 200 c. - Текст : непосредственный. Гусев В.А. Надежность элементов микросхем / В. А. Гусев, В. Н. Кузьмин, Н. В. Шевченко, 1979. - 22 л. - Текст : непосредственный. Гадоев С.М. Паразитные эффекты в КМДП ИМС при работе в широком диапазоне температур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.13.05;05.27.01 / С. М. Гадоев, 1993. - 10 с. - Текст : непосредственный. Бойко В.И. Повышение надежности интегральных схем серии 142 в процессе серийного производства : Диссертация в виде науч.докл.на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / В. И. Бойко, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный. Федотов Я.А. Надежность и контроль качества в интегральной электронике : Учеб. пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 1997. - 66 с. - Текст : непосредственный. Архипов А.В. Электродиффузионная надежность тонкопленочного проводника на основе эпитаксиальной пленки алюминия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / А. В. Архипов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным / М.И.Горлов,С.Ю.Королев,А.В.Кулаков,А.В.Строгонов, 1996. - 79 c. - Текст : непосредственный. Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с. Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с. - Текст : непосредственный. Романцов В.П. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по параметрам низкочастотных шумов / В.П.Романцов,М.В.Долганов, 1990. - 60 c. - Текст : непосредственный. 62 Научно-техническая конференция профессорско-преподавательского состава, сотрудников, аспирантов и студентов ВГТУ (г. Воронеж, 27 апреля 2022 г.) : материалы конференции: секции "Материалы и технология полупроводниковых приборов", "Проектирование и надежность полупроводниковых приборов и ИС" / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Воронежский государственный технический университет, 2022. - 44 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Васильев, Федор Владимирович. Физическая надежность электроники / Ф. В. Васильев, 2022. - 159 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Физические основы надежности интегральных схем : учебное пособие / М. И. Горлов, А. В. Строгонов, Т. Г. Меньшикова [и др.], 2023. - 96 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Диагностика и оценка надежности интегральных схем / М. И. Горлов, С. А. Цыбин, В. А. Сергеев, А. В. Строгонов, 2024. - 96 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Шубин, Владимир Владимирович. Отказы интегральных схем / В. В. Шубин, 2025. - 135, [2] с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Бордюжа, Олег Леонидович. Информационные технологии испытаний электронной компонентной базы : учебное пособие / О. Л. Бордюжа, М. И. Горлов, 2026. - 142 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
