Приложение
для AndroidПолное описание
System-level validation: high-level modeling and directed test generation techniques / M. Chen [et al.]. - New York, NY [etc.] : Springer, 2013. - XVII, 247 p. : ill. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 243-247. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.01.81 | 621.3.049.771.14-048.24 |
Рубрики:
Системы на кристалле -- Тестирование
Доп. точки доступа:
Chen, M.
Qin, X.
Koo, H.-M.
Mishra, P.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28824)
Шифр в сводном ЭК: 7a0aadafc91e81f2d975fbe8d17ae971
Working paper / International monetary fund. WP/09/44 : Exchange rates and wages in an integrated world / P. Mishra, A. Spilimbergo, 2009. - 42 p. - Текст : непосредственный.High performance computing for computer graphics and visualisation : материалы временных коллективов / Ed. M. Chen, 1996. - XI,287 p. p. - Текст : непосредственный.
System-level validation: high-level modeling and directed test generation techniques / M. Chen [et al.], 2013. - XVII, 247 p. - Текст : непосредственный.Frontiers of statistical decision making and bayesian analysis : in honor of James O. Berger / ed. M. Chen [et al.], 2010 r=on-line. - Текст : электронный.[Reports] / Amer.inst.of aeronautics and astronautics. N 89-1016 : Frequency effect of an oscillating plate immersed in a turbulent boundary layer : Rep. presented at the AIAA 2nd shear flow conf.,Mar.13-16,1989/Tempe(Az) / J.J.Miau,M.H.Chen,J.H.Chou, 1989. - 9 p. - Текст : непосредственный.Working paper / International monetary fund. WP/08/244 : Do interest groups affect U. S. immigration policy? / G. Facchini, A. M. Mayda, P. Mishra, 2008. - 56 p. - Текст : непосредственный.Shyy W. Computation of double-diffusive convection with solidification in an enclosure : Paper presented at AIAA/ASME 5th joint thermophysics a.heat transfer conf.,June 18-20,1990,Seattle(Wa) / W.Shyy,M.Chen, 1990. - 14 p. - Текст : непосредственный.Working paper / Intern. monetary fund. WP/07/60 : Policies, enforcement, and customs evasion: evidence from India / P. Mishra, A. Subramanian, P. Topalova, 2007. - 39 p. - Текст : непосредственный.Bandyopadhyay L.K. Wireless communication in underground mines : RFID-based sensor networking / L. K. Bandyopadhyay, S. K. Chaulya, P. K. Mishra, 2010 r=on-line. - Текст : электронный.Mishra P. Functional verification of programmable embedded architectures : a top-down approach / P. Mishra, N. D. Dutt, 2005 r=on-lineWorking paper / International monetary fund. WP/06/25 : Emigration and brain drain: evidence from the Caribbean / P.Mishra, 2006. - 37 p. - Текст : непосредственный.Advances in Hydrogeology / Ed. P. K. Mishra, 2013 r=on-line. - Текст : электронный.Working paper / International monetary fund. WP/05/20 : Trade liberalization and wage inequality: evidence from India / P.Mishra, U.Kumar, 2005. - 42 p. - Текст : непосредственный.Automated inspection and high speed vision architectures : Proc.of the meet. 3-4 Nov.1987, Cambridge(Ma) / сост.ed. M. J.W. Chen, сост.ed. J. Ahlers, 1988. - VI, 274 p. 274 p. - Текст : непосредственный.[Reports] / Amer.inst.of aeronautics and astronautics. N 89-1795 : Assessment of TVD schemes for inviscid and turbulent flow computation : Rep.presented at AIAA 20th fluid dynamics, plasma dynamics and lasers conf.,Buffalo(NY), Jun.12-14,1989 / M.Chen,C.Hsu,W.Shyy, 1989. - 13 p. - Текст : непосредственный.Working paper / International monetary fund. WP/06/86 : Emigration and wages in source countries: evidence from Mexico / P.Mishra, 2006. - 33 p. - Текст : непосредственный.Chen M. Computergestutzte Optimierung des Webprozesses bezuglich Kettfadenbeanspruchung und Kettlaufverhalten : Diss. / M.Chen, 1998. - x,124 S. S. - Текст : непосредственный.Working paper / Intern. monetary fund. WP/07/100 : Health aid and infant mortality / P. Mishra, D. Newhouse, 2007. - 40 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный.Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный.Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный.Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный.Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный.Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Boule M. Generating hardware assertion checkers / M. Boule, Z. Zilic, 2008 r=on-line. - Текст : электронный.DasGupta P. A roadmap for formal property verification / P. DasGupta, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.System-level validation: high-level modeling and directed test generation techniques / M. Chen [et al.], 2013. - XVII, 247 p. - Текст : непосредственный.Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / М. Чэнь [и др.]; пер. с англ. Е. Б. Махияновой, под ред. А. Н. Ланцева, 2014. - 294 с. - Текст : непосредственный.Bergeron J. Writing testbenches using system verilog / J. Bergeron, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Sachdev M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Liu X. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits / X. Liu, Q. Xu, 2014 r=on-line. - Текст : электронный.Bertacco V. Scalable hardware verification with symbolic simulation / V. Bertacco, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Verification methodology manual for systemverilog / J. Bergeron [et al.], 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Mintz M. Hardware verification with C++ : a practitioner's handbook / M. Mintz, R. Ekendahl, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Carter H.B. Metric- driven design verification : an engineer's and executive's guide to first pass success / H. B. Carter, S. Hemmady, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Wiemann A. Standardized functional verification / A. Wiemann, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Mintz M. Hardware verification with systemverilog : an object-oriented framework / M. Mintz, R. Ekendahl, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Spear C. System verilog for verification : a guide to learning the testbench language features / C. Spear, 2008 r=on-line. - Текст : электронный.Алексеев А.А. Исследование и разработка универсальных методов тестирования IP блоков систем на кристалле на базе микропроцессорных ядер : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. А. Алексеев, 2012. - 28 с. - Текст : непосредственный.Bhushan M. Microelectronic Test Structures for CMOS Technology : монография / by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen., 2011 r=on-line (Введено оглавление). - Текст : электронный.Смирнов, Константин Константинович. Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : специальность 05.13.12 - Системы автоматизации проектирования (в технических системах) (технические науки): автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Смирнов Константин Константинович, 2021. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽