• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Васильев, Ф. В. Тестирование интегральных микросхем : учеб. пособие / Ф. В. Васильев ; Моск. авиац. ин-т (нац. исслед. ун-т). - М. : Технология, 2016. - 31 с. : ил. - Библиогр.: с. 20 (4 назв.). - 200 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77-048.24
    47.01.81

    Рубрики:
    Интегральные схемы -- Тестирование

    Доп. точки доступа:
    Московский авиационный ин-т (нац. исследовательский ун-т)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-16/33380)

    Шифр в сводном ЭК: 27381814ea4b8c73d91e61f066164f34



    Заказ фрагмента документа ₽