Полное описание
> Попков, В. И. Методы оперативного контроля качества полупроводниковых материалов / В. И. Попков, О. Г. Казаков, Н. О. Радькова. - Брянск : [б. и.], 2001. - 50 с. : ил. - 100 экз. - ISBN 5-89838-040-X. - Текст : непосредственный. В надзаг.: Брян. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с. 45-49 (71 назв.)
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.382.002:658.562
Рубрики: Полупроводниковые приборы -- Технический контроль
Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР -- ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ
Доп. точки доступа: Казаков, О.Г.
Радькова, Н.О.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-01/68776)>
Шифр в сводном ЭК: 52c71ff69aed83e81c66ca96d481de65
Проблемы высокогорной электротехники. Вопросы электропередачи в горных районах СССР : сборник / Институт энергетики и водного хозяйства (Фрунзе), 1961. - 310 c.,3 л.ил. c.,3 л.ил. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Физика атома, атомного ядра и элементарных частиц : выставочные материалы / В. И. Попков, 2015. - 223 с. - Текст : непосредственный. Основы теории неуправляемого горения и взрыва / О. Г. Казаков, А. В. Тотай, В. И. Попков, Н. О. Радькова, 2005. - 258 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Концепции современного естествознания: логика и методология естественных наук / В. И. Попков, 2005. - 103 с. - Текст : непосредственный. Менеджмент качества подготовки специалистов в техническом вузе : материалы временных коллективов / Ред. В. И. Попков, 2001. - 198 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Формирование, строение и свойства нанокристаллического ортоферрита иттрия / В. И. Попков, 2017. - 20 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Механика жидкости и газа: основные понятия, формулы и уравнения : учебное пособие / В. И. Попков, 2018. - 253 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Механика жидкости и газа: сборник задач с решениями : учебное пособие / В. И. Попков, 2019. - 175 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Геохимия нефти и газа : учеб. пособие / В. И. Попков, В. А. Соловьев, Л. П. Соловьева, 2012. - 320 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Виброакустическая диагностика и снижение виброактивности судовых механизмов / В. И. Попков; [науч. ред. А. С. Никифоров], 1974. - 221 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Методы оперативного контроля качества полупроводниковых материалов / В. И. Попков, О. Г. Казаков, Н. О. Радькова, 2001. - 50 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Физика в системе наук : учеб. пособие / В. И. Попков, 2010. - 227 с. - Текст : непосредственный. Удовенко Е.В. Общая химия: сборник контрольных заданий : учеб.-практ. изд. / Е. В. Удовенко, И. В. Ильина, О. Г. Казаков, 2010. - 179 с. - Текст : непосредственный. Горностаева А.Н. Маркетинг: практикум (для бакалавров) : учеб. пособие / А. Н. Горностаева, Н. О. Радькова, 2014. - 207 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Колебания механизмов и конструкций / В. И. Попков, С. В. Попков, 2009. - 489 с. - Текст : непосредственный. Удовенко Е.В. Химия: сборник контрольных заданий : учеб.-практ. изд. / Е. В. Удовенко, И. В. Ильина, О. Г. Казаков, 2014. - 276 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Глубинная структура Северного Устюрта : По данным сейсморазведки МОГТ / В. И. Попков, В. А. Воскобой, А. М. Нурманов, 1993. - 93 c.,2 л.ил. c.,2 л.ил. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Мегамир : учеб. пособие / В. И. Попков, 2011. - 128 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Физический словарь : учеб. пособие / В. И. Попков, 2013. - 293 с. - Текст : непосредственный. Теория горения и взрыва : сб. задач / О. Г. Казаков [и др.], 2017. - 70 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Обвинцев О.А. Повышение качества поверхности полупроводникового кремния при лезвийной обработке с помощью дополнительного деформирования срезаемого слоя : специальность 05.03.01 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / О. А. Обвинцев, 1999. - 20 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Кричевский С.В. Разработка приборов анализа и повышения степени чистоты поверхности диоксида кремния : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.01 / С. В. Кричевский, 2008. - 19 с. - Текст : непосредственный. Попков В.И. Методы оперативного контроля качества полупроводниковых материалов / В. И. Попков, О. Г. Казаков, Н. О. Радькова, 2001. - 50 с. - Текст : непосредственный. Тихов С.В. Методы исследования полупроводниковых материалов, приборов и интегральных схем : Учеб. пособие / С.В.Тихов, 1990. - 83 с. - Текст : непосредственный. Анализ отказов и контроль технологических операций производства интегральных микросхем и полупроводниковых приборов : Справ. / М-во электрон.пром-сти СССР. Кн. 1 : Методы, методики, средства контроля и анализа отказовкн. 2. Виды, механизмы, причины отказов, мероприятия по их устранению, , 1990. - 107 с. - Текст : непосредственный. Анфалова Е.С. Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : Учеб. пособие / Е. С. Анфалова, 2005. - 148 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽