Полное описание
> Карташев, В. А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев. - М. : [б. и.], 2007. - 12 с. : ил. - (Препринт / Ин-т прикладной математики им.М.В.Келдыша(Москва) ; 41 за 2007 г.). - Библиогр.: с. 12(3 назв.). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 621.385.833.2(04)
Рубрики: Микроскопы электронные
Доп. точки доступа: Карташев, В.В.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/41 за 2007 г.)>
Шифр в сводном ЭК: fa3565aa47b55f74987146503941b824
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Модели и алгоритмы для интеллектуальных систем управления : [монография] / А. А. Богуславский, Г. К. Боровин, В. А. Карташев [и др.], 2019. - 232 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Математическая модель процесса электрохимической заточки иглы туннельного микроскопа / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Управление сборочными движениями манипуляционных систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.02.01 / В. А. Карташев, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Управление движением схвата манипулятора по сложной траектории / В.А.Карташев, 1999. - 16 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.В. Алгоритмическое и программное обеспечение комплексов для зондовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 05.13.11 / В. В. Карташев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный. Борисова К.И. Биоразлагаемая упаковка - решение или проблема? / К. И. Борисова, Д. Р. Бондарев, В. А. Карташев, Д. Д. Кириллова [и др.]. - Текст : непосредственный // Актуальные проблемы экологии и природопользования : сборник научных трудов XXII Международной научно-практической конференции, Москва, 22-24 апреля 2021 г. : в трех томах / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Российский университет дружбы народов [и др.] ; ответственный редактор - Т. Н. Ледащева. - Москва : РУДН, 2021. - Т. 3. - с. 32-36 Система "Зарплата ИПМ". Краткое описание / Э. С. Луховицкая, Р. Ю. Скорнякова, Н. Б. Фейгельсон, Е. Ю. Шведова, 2006. - 13 с. - Текст : непосредственный. Прокопов Г.П. Контроль энтропии в алгоритмах и расчетах газодинамических течений / Г. П. Прокопов, 2006. - 28 с. - Текст : непосредственный. Игнатов А.И. Применение реактивных двигателей для управления поступательным движением КА одновременно с разгрузкой кинетического момента электромеханических исполнительных органов / А. И. Игнатов, А. А. Давыдов, В. В. Сазонов, 2006. - 20 с. - Текст : непосредственный. Брюно А.Д. Сложные разложения решений системы ОДУ / А. Д. Брюно, 2006. - 13 с. - Текст : непосредственный. Зайцев Н.А. Замкнутая формулировка трехмерной нестационарной задачи в ограниченной области о взаимодействии электромагнитного поля с диспергирующей решеткой / Н. А. Зайцев, 2006. - 30 с. - Текст : непосредственный. Левкович-Маслюк Л.И. Выделение сингулярностей газодинамических полей при помощи комплексных габоровских фильтров / Л. И. Левкович-Маслюк, 2006. - 10 с. - Текст : непосредственный. Галанин М.П. Методы численного моделирования квазистационарных электромагнитных полей в областях с негладкими границами проводящих и диэлектрических подобластей / М. П. Галанин, С. С. Уразова, 2006. - 27 с. - Текст : непосредственный. Бахолдин И.Б. Методы исследования многоволновых структур разрывов в слабодиссипативных моделях с дисперсией / И. Б. Бахолдин, 2006. - 30 с. - Текст : непосредственный. Козлов Н.Н. Некоторые численные характеристики больших геномов / Н. Н. Козлов, С. С. Грязнов, 2006. - 24 с. - Текст : непосредственный. Козлов Н.Н. Математический анализ одной биологической структуры / Н. Н. Козлов, М. Г. Бахарев, 2006. - 24 с. - Текст : непосредственный. Бухштаб Ю.А. Новые возможности работы с потоковой информацией / Ю. А. Бухштаб, А. А. Воробьев, Н. Н. Евтеева, 2006. - 12 с. - Текст : непосредственный. Страховская Л.Г. Об одном варианте МКСЭ для уравнений Навье-Стокса / Л. Г. Страховская, 2006. - 24 с. - Текст : непосредственный. Численные исследования чувствительности радиографического контроля / М. Е. Жуковский, С. В. Подоляко, Е. Г. Лукьянова, А. А. Егорушкин, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный. Брюно А.Д. Вычисление нормальных форм уравнений Эйлера-Пуассона / А. Д. Брюно, В. Ф. Еднерал, 2007. - 17 с. - Текст : непосредственный. Горючкина И.В. Экзотические разложения решений шестого уравнения Пенлеве / И. В. Горючкина, 2007. - 29 с. - Текст : непосредственный. Об аномальном поглощении световых потоков плотной плазмой / С. Л. Гинзбург, В. Ф. Дьяченко, В. С. Имшенник, В. В. Палейчик, 2007. - 10 с. - Текст : непосредственный. Малахов С.Г. Исследование динамики неравновесного испарения в вакуум / С. Г. Малахов, 2007. - 21 с. - Текст : непосредственный. Галанин М.П. Математическое моделирование электромагнитного ускорения лайнера в различных двумерных приближениях / М. П. Галанин, А. П. Лотоцкий, А. С. Родин, 2007. - 32 с. - Текст : непосредственный. Галанин М.П. Численное решение задачи термопластичности с дополнительными параметрами состояния / М. П. Галанин, М. А. Гузев, Т. В. Низкая, 2007. - 20 с. - Текст : непосредственный. К проблеме определения теплофизических свойств грунта Фобоса / М. Я. Маров, А. В. Колесниченко, В. Н. Лебедев, К. К. Мануйлов, 2007. - 22 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik". - 193 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный. Gloede W. Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop / W.Gloede, 1986. - 248 S. - Текст : непосредственный. Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный. Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А.М.Прохоров,Г.Я.Зуева,Н.В.Сережкина,В.С.Зуев;Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др, 2001. - 15 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный. Солдатенко Г.А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко, 1991. - 28 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽