Полное описание
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) = Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. - М. : ИППМ РАН, 2017 - . - Описано по обл... - Текст : непосредственный. Ч. 4 . - 2017. - VI,67 с. : ил. - Рез. рус. - Библиогр. в конце ст. - 125 экз.
ГРНТИ УДК 47.14.07 621.3.049.76-047.56(062) 621.384-022.532-047.56(062)
Рубрики: Микроэлектронные приборы -- Проектирование -- Съезды и конференции
Наноэлектронные устройства -- Проектирование -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа: Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Экз-ры полностью bc9165fe4f0a5ffb4d2bb1664794cc9a Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/21314/4)
Шифр в сводном ЭК: bc9165fe4f0a5ffb4d2bb1664794cc9a
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 1 : Simulation of VLSI characteristics, 2015. - 46 p. - Текст : непосредственный. Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 2 : Methods for high-level simulation. Methods of device technology simulation, 2015. - 51 p. - Текст : непосредственный. Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 3 : Design of analog and mixed VLSI IP-blocks. Design of radiation-resistant VLSI circuits, 2015. - 57 с. - Текст : непосредственный. Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 4 : Design of system-on-chip (SoC) and IP-blocks. Digital signal processing. Unconventional cpmputing systems, 2015. - 46 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 3 : Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы. Проектирование электронной компонентной базы. Решение сетевых и алгоритмических задач. Физические явления в материалах микроэлектроники и их использование для разработки новой элементной базы, 2018. - 203 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 2 : Верификация и тестирование. Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС, 2018. - 187 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Проблемы современной аналоговой микросхемотехники : VI Междунар. науч.-практ. семинар, Шахты, 3-5 окт. 2007 г., сб. материалов / Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва). Ч. 2 : Разработка и применение аналоговой и дискретно-аналоговой микроэлектронной техники, 2007. - 68 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Евсиков И.А. Применение спектральных методов линейной декомпозиции для синтеза на современной элементной базе : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. А. Евсиков, 1998. - 16 с. - Текст : непосредственный. Solid State Electronics. - Журнал. - Текст : непосредственный. Петухов Г.А. Автоматизация топологического проектирования БИС на базовых кристаллах / Г. А. Петухов, С. А. Арустамов, 1989. - 24 с. - Текст : непосредственный. Лемешко Н.В. Основы проектирования интегральных микросхем : учебное пособие / Н. В. Лемешко, 2010. - 270 с. - Текст : непосредственный. Стемпковский А.Л. Системная среда САПР СБИС / А. Л. Стемпковский, В. А. Шепелев, А. В. Власов, 1994. - 251 c. - Текст : непосредственный. Руденко А.Г. Математические модели и методы решения задачи расчета сечений шин питания БИС/СБИС / А. Г. Руденко, 1991. - 43 с. - Текст : непосредственный. Design methodologies for VLSI and computer architecture : сборник / Ed. D. A. Edwards, 1989. - XIII,348 p. p. - Текст : непосредственный. Journal Microelectronic Systems Integration. - Журнал выходит с 1993г. - Текст : непосредственный. Шишкин В.М. Прогнозирование и оптимизация серийноспособности схем в интегрированной САПР микроэлектронных устройств : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук / В. М. Шишкин, 1995. - 33 с. - Текст : непосредственный. Казеннов Г.Г. Основы проектирования интегральных схем и систем / Г. Г. Казеннов, 2005. - 295 с. - Текст : непосредственный. Наноинженерия : библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн. / под ред. В. А. Шахнова. 13 : Автоматизированное проектирование наносистем / А. И. Власов [и др.], 2011. - 183 с. - Текст : непосредственный. Семенова О.В. Прецизионная обработка поверхности подложек микроэлектроники порошками ультрадисперсного алмаза : специальность 05.03.01 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / О. В. Семенова, 2000. - 23 с. - Текст : непосредственный. Романова М.П. Конструирование полупроводниковых микросхем : выставочные материалы / М. П. Романова, 2012. - 87 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем-2005 : материалы временных коллективов / Ред. А. Л. Стемпковский, 2005. - 537 с. - Текст : непосредственный. Торгонский Л.А. Проектирование интегральных микросхем и микропроцессоров : учеб. пособие. Разд. 1, 2008. - 254 с. - Текст : непосредственный. Kemper A. Entwurf von Semicustom-Schaltungen / A. Kemper, M. Meyer, 1989. - 10,250 S. S. - Текст : непосредственный. Казеннов Г.Г. Проектирование топологии матричных БИС / Г. Г. Казеннов, Е. В. Сердобинцев, 1990. - 112 с. - Текст : непосредственный. Казеннов Г.Г. Принципы и методология построения САПР БИС / Г. Г. Казеннов, А. Г. Соколов, 1990. - 142 с. - Текст : непосредственный. Жаркой М.Ф. Основы конструирования и технологии производства изделий микроэлектронной аппаратуры : учеб. пособие. Ч. 1, 2008. - 64с. - Текст : непосредственный. Pogatzki P. Lernfahiges Entwurfssystem fur planare Hochfrequenzschaltungen / P. Pogatzki, 1989. - 146 S. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 4 : Design of system-on-chip (SoC) and IP-blocks. Digital signal processing. Unconventional cpmputing systems, 2015. - 46 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 3 : Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы. Проектирование электронной компонентной базы. Решение сетевых и алгоритмических задач. Физические явления в материалах микроэлектроники и их использование для разработки новой элементной базы, 2018. - 203 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 2 : Верификация и тестирование. Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС, 2018. - 187 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2 : Верификация и тестирование. Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы, 2016. - 281 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
