Полное описание

Александров, П. А. Способы построения отказоустойчивых цифровых микросхем и оценки вероятностей их отказа, вызванного облучением / П. А. Александров, В. И. Жук, В. Л. Литвинов. - Москва : ПоРог, 2019. - 114 с. : ил. - Библиогр.: с. 109-114 (59 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-902377-60-3. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
50.09.29	004.312:539.16

Рубрики:
Интегральные схемы цифровые -- Влияние ионизирующих излучений

Аннотация: Рассмотрены способы построения пассивно отказоустойчивых облучаемых цифровых микросхем, применимых в нано- и микроэлектронных системах. Предложен новый метод оценки отказоустойчивости облучаемых микросхем, названный методом оценки "по площадям".
Доп. точки доступа:
Жук, В.И.
Литвинов, В.Л.

Оглавление

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ж2-19/66028)

Шифр в сводном ЭК: 3da682db8a6ac90a10df4ed82adededf

Заказать
Заказ фрагмента документа ₽

Просмотр издания