Приложение
для AndroidПолное описание
Хокс, П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). Предм. указ.: с. 315-318. - Пер. изд. : Electron optics and electron microscopy / P. W. Hawkes. - 1972. - Тираж не указ. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.3 | |
| 29.35.39 | 537.533.35 |
Рубрики:
Электронная и ионная оптика
Микроскопия электронная
Доп. точки доступа:
Анаскин, И.Ф.\пер.\
Розенфельд, А.М.\пер.\
Стоянова, И.Г.\ред.\
Hawkes, P. W.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д4/33292)
Шифр в сводном ЭК: 6faffd0107b48a7f2c7ce33f3fd87d9e
Hawkes P.W. Principles of electron optics. Vol. 1 : Basic geometrical optics, 1989. - XVIII, 623 p. - Текст : непосредственный.Hawkes P.W. Principles of electron optics. Vol. 2 : Applied geometrical optics, 1989. - X, 629-1188 p. - Текст : непосредственный.Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный.Aspects of image processing and compression / ed. P. W. Hawkes, 2001. - 327 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 157 : Optics of charged particle analyzers / M. Yavor, 2009. - XXIII, 381 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 137 : Dogma of the continuum and the calculus of finite differences in quantum physics / H. F. Harmuth, B. Meffert, 2005. - 319 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 148, 2007. - 264 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 138, 2005. - 371 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 140, 2006. - 317 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 142, 2006. - 336 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 139, 2006. - 306 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 162, 2010. - XIV, 275 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 163, 2010. - XIV, 228 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 147, 2007. - XVI, 209 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P. W. Hawkes. Vol. 134, 2005. - XVI, 276 p. - Текст : непосредственный.Хокс, П. Основы электронной оптики : В 2-х т. Т. 1 : Основы геометрической оптики, 1993. - 551 с. - Текст : непосредственный.Хокс, П. Основы электронной оптики : В 2-х т. Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика, 1993. - 477 с. - Текст : непосредственный.Science of microscopy / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line. - Текст : электронный.
Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Buts V.A. The theory of coherent radiation by intense electron beams / V. A. Buts, A. N. Lebedev, V. Kurilko, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Никулин М.Г. Волновые коллективные процессы в каналах транспортировки релятивистских электронных пучков : специальность 01.04.02 "Теоретическая физика", 01.04.08 "Физика плазмы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Г. Никулин, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный.Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Vacuum arc source of metal ions / V. A. Batalin, J. N. Volkov, T. V. Kulevoy, S. V. Petrenko, 1991. - 24 p. - Текст : непосредственный.Вакуумно-дуговой источник ионов металлов / В. А. Баталин, Ю. Н. Волков, Т. В. Кулевой, С. В. Петренко, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Страшкевич А.М. Электронная оптика электростатических полей, не обладающих осевой симметрией / А. М. Страшкевич, 1959. - 251 с. - Текст : непосредственный.Гришин В.К. Физика интенсивных пучков заряженных частиц / В. К. Гришин, 1992. - 107 с. - Текст : непосредственный.Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный.Production of heavy ion beams by operating Serse in DC mode and afterglow mode / S. Gammino, G. Ciavola, L. Celona, A. Girard, 2000. - 7 p. - Текст : непосредственный.Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный.Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный.
Показать все результатыМиронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Страшкевич А.М. Электронная оптика электростатических полей, не обладающих осевой симметрией / А. М. Страшкевич, 1959. - 251 с. - Текст : непосредственный.Гришин В.К. Физика интенсивных пучков заряженных частиц / В. К. Гришин, 1992. - 107 с. - Текст : непосредственный.Зафар Ю. Оптические параметры триплетной фокусирующей системы и ее действие в стигматическом режиме / Ю. Зафар, 1991. - 10 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Топурия Т.П. Метод линейных уравнений для решения краевых задач электростатики и примеры его применения в электронной оптике / Т. П. Топурия, М. Д. Шафранов, 1998. - 14 с. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный.Котина Е.Д. Некоторые вопросы динамики заряженных частиц : Учеб. пособие. Ч. 1, 1999. - 43 с. - Текст : непосредственный.Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный.Молоковский С.И. Интенсивные электронные и ионные пучки / С. И. Молоковский, А. Д. Сушков, 1991. - 303 с. - Текст : непосредственный.Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Molokovsky S.I. Intense electron and ion beams / S. I. Molokovsky, A. D. Sushkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Buts V.A. The theory of coherent radiation by intense electron beams / V. A. Buts, A. N. Lebedev, V. Kurilko, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Никулин М.Г. Волновые коллективные процессы в каналах транспортировки релятивистских электронных пучков : специальность 01.04.02 "Теоретическая физика", 01.04.08 "Физика плазмы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Г. Никулин, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Ларионов А.В. Программа для численного моделирования транспортировки неаксиально-симметричных электронных пучков в протяженных каналах / А. В. Ларионов, 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный.Страшкевич А.М. Электронная оптика электростатических полей, не обладающих осевой симметрией / А. М. Страшкевич, 1959. - 251 с. - Текст : непосредственный.Гришин В.К. Физика интенсивных пучков заряженных частиц / В. К. Гришин, 1992. - 107 с. - Текст : непосредственный.Носков Д.А. Электронно-ионное оборудование технологического назначения, 1973. - 116 с. - Текст : непосредственный.Зафар Ю. Оптические параметры триплетной фокусирующей системы и ее действие в стигматическом режиме / Ю. Зафар, 1991. - 10 с. - Текст : непосредственный.Пономаренко В.П. Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений, 1946-2006 / В. П. Пономаренко, А. М. Филачев, 2008. - 334 с. - Текст : непосредственный.Шестиэлектродная двойная квадрупольная линза / В. Ф. Ежов, В. Л. Рябов, Ю. В. Соболев, В. В. Ящук, 1995. - 12 c. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Электронные пучки в ускоряющих и магнито-фокусирующих системах : сборник / Институт энергетики и автоматики (Ташкент), 1990. - 95 с. - Текст : непосредственный.Топурия Т.П. Метод линейных уравнений для решения краевых задач электростатики и примеры его применения в электронной оптике / Т. П. Топурия, М. Д. Шафранов, 1998. - 14 с. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания