Полное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Краткая энциклопедия по структуре материалов / Ред. Д. В. Мартин, 2011. - 607 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Пул Ч. Нанотехнологии / Ч. Пул, Ф. Оуэнс, 2010. - 330 с. - Текст : непосредственный.
Альтман Ю. Военные нанотехнологии. Возможности применения и превентивного контроля вооружений : учеб. пособие: пер. с англ. / Ю. Альтман, 2006. - 421 с. - Текст : непосредственный.Вильнав Ж. Клеевые соединения / Ж.-Ж. Вильнав; пер. с франц. Л. В. Синегубовой с предисл. и под ред. Г. В. Малышевой, 2007. - 381 с. - Текст : непосредственный.Харрис П. Углеродные нанотрубы и родственные структуры : Новые материалы XXI века: Пер. с англ. / П.Харрис, 2003. - 335 с. - Текст : непосредственный.Гамбург Ю.Д. Гальванические покрытия. Справочник по применению / Ю. Д. Гамбург, 2006. - 215 с. - Текст : непосредственный.Полмеар Я. Легкие сплавы: от традиционных до нанокристаллов : пер. с англ. Ю. Л. Цвирко / Я. Полмеар, 2008. - 463 с. - Текст : непосредственный.Физические основы, методы исследования и практическое применение пьезоматериалов / В. А. Головнин [и др.], 2013. - 271 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Акчурин Р.Х. МОС-гидридная эпитаксия в технологии материалов фотоники и электроники / Р.Х. Акчурин, А. А. Мармалюк, 2018. - 487 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : словарь / сост. А. С. Авилов и др.; под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа, 2009. - 135 с. - Текст : непосредственный.Мак-Ивили А.Д. Анализ аварийных разрушений / А. Д. Мак-Ивили; пер. с англ. Э.М. Лазарева и др., 2010. - 413 с. - Текст : непосредственный.Егорова О.В. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей. С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова, 2007. - 357 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Martin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Отто М. Современные методы аналитической химии : монография / М. Отто, 2006. - 543 с. - Текст : непосредственный.Гунцов А.В. Математическое моделирование процессов электронакопления микроколичеств осадка, осложненных химическими реакциями / А. В. Гунцов, Л. В. Гунцова, А. А. Шилов, 2013. - 79 с. - Текст : непосредственный.Носкова Г.Н. Твердые углеродсодержащие композитные электроды для определения элементов вольтамперометрическими методами : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / Г. Н. Носкова, 2012. - 43 с. - Текст : непосредственный.Новоженов В.А. Термический анализ : учеб. пособие / В. А. Новоженов, Н. Е. Стручева, 2012. - 383 с. - Текст : непосредственный.Journal of Analytical Atomic Spectrometry. - Журнал r=on-line. - Текст : электронный.Актуальные проблемы неорганической и аналитической химии : межвуз. темат. сб. науч. тр. / Российский гос. ун-т им. И.Канта. Вып. 2, 2006. - 122 с. - Текст : непосредственный.Харитонов Ю.Я. Примеры и задачи по аналитической химии (Гравиметрия, экстракция, неводное титрование, физико-химические методы анализа) : учебное пособие / Ю. Я. Харитонов, В. Ю. Григорьева, 2008. - 299 с. - Текст : непосредственный.Актуальные проблемы неорганической и аналитической химии : межвуз. темат. сб. науч. тр. / Рос. гос. ун-т им. И.Канта. Вып. 3, 2007. - 113 с. - Текст : непосредственный.Лурье Ю.Ю. Справочник по аналитической химии / Ю. Ю. Лурье, 2007. - 447 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыШеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный.
Доломатов, М. Ю. Электронная феноменологическая спектроскопия и ее применение в исследовании сложных веществ в технологии, химии, нанофизике и медицине : монография. Ч. 1 : Электронная феноменологическая спектроскопия в исследовании свойств и структуры молекул и наночастиц, 2019. - 321 с. - Текст : непосредственный.Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок / С.С.Еловиков, 1992. - 94 с. - Текст : непосредственный.Dacca A. Tecniche di spettroscopia elettronica per l'analisi di superfici / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1997. - 15 p. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes. Vol. 123 : Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons , 2002. - XVI,462 p. p. - Текст : непосредственный.Yuan Z.W. Exelfs studies of the atomic fine structure in solids with a convergent beam diffraction coupled eels spectrometer system : Diss / Z.W.Yuan, 1993. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный.Соколов О.Б. Развитие экспериментальных возможностей метода электронной спектроскопии с использованием магнитного энергоанализа : Учеб. пособие / О.Б.Соколов,В.Л.Кузнецов, 1990. - 56 c. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Berakdar J. Electronic correlation mapping : from finite to extended systems / J.Berakdar, 2006. - XIII, 192 p. - Текст : непосредственный.Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный.Бутлеровское наследие : серия / Министерство образования и науки Российской Федерации, Уфимский государственный нефтяной технический университет. Кн. 6 : Электронная феноменологическая спектроскопия и её применение в исследовании сложных молекулярных систем в химии, технологии, физике и медицине : монография / М. Ю. Доломатов, М. М. Доломатова, Г. М. Сидоров [и др.] ; под научной редакцией М. Ю. Доломатова, 2024. - 308 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.
Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Белозерова О.Ю. Модификация биэкспоненциальной модели в рентгеноспектральном микроанализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / О. Ю. Белозерова, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Болохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев; под редакцией В. Н. Чувильдеева, 2022. - 108 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Заказ фрагмента документа ₽