• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Hazard assessment and control technology in semiconductor manufacturing : сборник. - 2nd print. - Chelsea, Mi : Lewis publ., 1989. - vii,322 p. p. : ill. - (Industrial hygiene science series). - ISBN 0-87371-132-7. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей Указ.:с.311-322

    ГРНТИ УДК
    47.01.76331.453:621.38(063)

    Рубрики:
    Предприятия электронной промышленности -- Техника безопасности -- Съезды и конференции

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/23092)

    Шифр в сводном ЭК: cdb9da40a496012e967f1a10ec806a8b



    Заказ фрагмента документа ₽